合理分組是將數據組織成在相同/相似操作條件下產生的組的過程。幾個新的子分組功能被添加到工藝篩選平台在JMP 16.1使這種分析更加靈活和用戶友好。
- 您現在可以指定多個子組列。
- 具有子組角色的單個和移動極差圖現在創建一個包含樣本標籤列的明細表。
- 添加了一個選項，使您可以靈活地按或不按子組列進行排序。
要查看這些新功能的示例，請打開示例數據文件夾中的 Semiconductor Capability.jmp。
dt=open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
多個子組列和样本標籤列
選擇分析->篩選->過程篩選。 指定 NPN1 作為過程變量。 對於子組，指定 lot_id 和晶片。
在以前的版本中，僅允許一個子組列用於過程篩選。 從 JMP 16.1 開始，可以為過程篩選分析定義多個子組列。 單擊確定。
從紅色三角形中，選擇保存詳細信息表。 除了子組列之外，該表還包含所有子組變量的列：lot_id 和晶片。 在以前的版本中，只創建了一個子組列。 詳細信息表中沒有lot_id 和wafer 的識別信息。
按子組排序
選擇分析->篩選->過程篩選。指定 NPN1 作為過程變量。 將晶片指定為子組。 將控製圖類型設置為 XBar 和 R。
請注意左下方“按子組排序”中的新復選框。 默認情況下，不選中此框意味著不會對數據進行排序。
單擊確定。 從報告頂部的紅色三角形中，選擇保存詳細信息表。
我們看到第一個子組對應於wafer=1。 25日subgroup 也對應wafer=1。 這是因為 Process Screening 沒有對數據進行排序。 如果您回顧原始數據表，您會看到類似的排列，其中第 1-5 行的晶片 = 1，第 121-125 行的晶片 = 1。
讓我們將此與選中對話框中的按子組排序框進行比較。 選擇原始半導體能力數據表。 選擇分析->篩選->過程篩選。 單擊召回。 您應該擁有與之前圖片相同的對話框。 在此對話框中，在單擊“確定”之前選中左下方的“按子組排序”框。
現在，當您選擇 Save Details Table 時，您會發現 NPN1 列的晶圓 1 只有 1 個子組。
比較 Process Screening 結果，您會發現給定的統計數據因使用的排序選項而異。 有理子組定義了分析的實施方式。
結論
JMP 16.1 為子組變量提供了更大的靈活性。
- 可以定義多個子組變量。
- 帶有子組變量的 IMR 圖表的明細表包含每個子組變量的子組標籤列。
- 新的按子組排序命令確定平台是否在分析之前對數據進行排序。
