Screening di processo consente di esplorare un gran numero di processi nel tempo. Diverse nuove funzionalità sono state aggiunte a questa piattaforma in JMP 16 . Questo post del blog descrive in dettaglio le nuove funzionalità per Process Screening introdotte in JMP 16.
Grafici XBar e IMR in un unico lancio
Le aziende hanno spesso molti processi in corso. Alcuni processi hanno più di un'osservazione per sottogruppo e richiedono un grafico XBar, mentre altri processi possono avere una singola osservazione per sottogruppo e richiedono un grafico IMR. A partire da JMP 16, è possibile ottenere entrambi i tipi di grafici con un singolo avvio di Process Screening.
Considera la seguente tabella di dati.
dt=New Table( "Process Data",
Add Rows( 24 ),
New Column(
"wafer",
Numeric( 1 ),
"Nominal",
Set Values(
[1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12, 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10,
11, 12]
),
Set Display Width( 0 )
),
New Column(
"Y1",
Numeric,
"Continuous",
Format( "Best", 10 ),
Set Property(
"Spec Limits",
{LSL( 104.41 ), USL( 131.89 ), Target( 118.15 )}
),
Set Values(
[114.555760105678, 113.52359591958, 114.946183872216, 116.25374611217,
110.287898508744, 119.847995090729, 113.877878795723, 113.106755626713,
114.832071507276, 115.737338527253, 120.193341974807, 113.425287275443,
., ., ., ., ., ., ., ., ., ., ., .]
),
Set Display Width( 0 )
),
New Column(
"Y2",
Numeric,
"Continuous",
Format( "Best", 10 ),
Set Property(
"Spec Limits",
{LSL( 164.39 ), USL( 429.65 ), Target( 297.02 )}
),
Set Values(
[322.616751775796, 323.833298568833, 301.607366273833, 278.646245766939,
469.298298488357, 332.715779503856, 346.462173291699, 213.59945858556,
291.464226219377, 345.449129206092, 242.233144838257, 423.564714196848,
291.370833295888, 333.921504947116, 288.644927205998, 258.806219486679,
263.935377860945, 276.312880747942, 322.144968498633, 341.978235063698,
316.143895248667, 302.164492808713, 319.751938178979, 269.802897971304]
),
Set Display Width( 0 )
),
Group Columns( "Processes", :Y1, 2 )
);
Questa tabella contiene i dati di due processi. Il primo processo (Y1) ha un'osservazione per wafer. Il secondo processo (Y2) ha due osservazioni per wafer. Pertanto, il tipo di grafico di controllo dovrebbe essere XBar per Y2 e IMR (Individual and Moving Range) per Y1.
Per creare questa analisi, selezionare Analizza->Screening->Process Screening. Assegna Y1 e Y2 alle variabili di processo. Assegna il wafer al sottogruppo. Cambia il tipo di grafico in XBar e R.

In alternativa, puoi eseguire il seguente JSL:
obj=dt<< Process Screening(
Process Variables( :Y1, :Y2 ),
Control Chart Type( "XBar and R" ),
Subgroup( :wafer )
);
Dopo aver fatto clic su OK, troverai la seguente analisi:

Un tipo di grafico XBar e R è stato applicato a Y2. Un tipo di grafico Misura individuale e Intervallo mobile è stato applicato a Y1.
Valori di colore fuori specifica
Capacità di processo e Gestisci i limiti delle specifiche metodi già forniti per colorare i valori che sono fuori dai limiti delle specifiche.Questa funzionalità è stata aggiunta a Process Screening JMP 16.
Eseguire il codice seguente per aprire Semiconductor Capability.jmp ed eseguire lo script Process Screening allegato alla tabella.
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<<RUN script=""></RUN>
Per colorare i valori fuori specifica nella tabella dati, seleziona il triangolo rosso accanto a Process Screening e scegli Show Capability->Color Out of Spec Values.

Nella tabella dei dati, le celle con osservazioni che scendono al di sotto del limite di specifica inferiore sono colorate in rosso. Le celle con osservazioni al di sopra del limite di specifica superiore sono colorate in blu.

Possibilità di specificare K per K Sigma
Il monitoraggio dei processi è spesso afflitto da troppi falsi allarmi. Questo può portare a ignorare gli allarmi. L'opzione K Sigma, introdotta in JMP 16, offre agli utenti la possibilità di specificare K. Ricordiamo che i limiti sono calcolati usando +/- K * Sigma, e aumentando K si allargheranno i limiti. Questo ti dà un modo per rendere gli allarmi meno sensibili, producendo meno falsi allarmi.
Ad esempio, esegui quanto segue:
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<<PROCESS screening=""></PROCESS>

Notare che ci sono 9 violazioni del Test 1. Dopo le indagini, è stato stabilito che si trattava di tutti falsi allarmi. Per rendere gli allarmi meno sensibili, K Sigma può essere regolato. Seleziona Analizza->Screening->Process Screening. Seleziona A2P1 come Variabili di processo. Selezionare ID wafer in ID lotto come Sottogruppo.In basso a sinistra nella finestra di dialogo, cambia KSigma in 4.

Fare clic su OK.

Un KSigma di 4 fa sì che i limiti di controllo siano più ampi (linea centrale +/- 4*sigma) rispetto a un KSigma di 3 (linea centrale +/- 3*sigma).Questo esempio ora non ha violazioni del test 1 poiché tutte le osservazioni rientrano nei limiti di 4 sigma.
Tre nuove funzionalità chiave sono state aggiunte a Process Screening in JMP 16.
- La possibilità di avere carte di controllo XBar e IMR in un unico lancio.
- La capacità di colorare e selezionare valori fuori specifica.
- La capacità di alterare KSigma per rendere i test di allarme più o meno sensibili.