流程篩選使您能夠跨時間探索大量流程。 JMP 16中為該平台新增了多項新功能。本部落格文章詳細介紹了 JMP 16 中引入的流程篩選新功能。
一次啟動 XBar 和 IMR 圖表
公司通常有許多正在進行的流程。有些過程每個子組有多個觀察值，需要 XBar 圖，而其他過程可能每個子組都有一個觀察值，需要 IMR 圖。從 JMP 16 開始，您只需啟動一次 Process Screening 即可獲得兩種圖表類型。
考慮以下數據表。
dt=New Table( "Process Data",
Add Rows( 24 ),
New Column(
"wafer",
Numeric( 1 ),
"Nominal",
Set Values(
[1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12, 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10,
11, 12]
),
Set Display Width( 0 )
),
New Column(
"Y1",
Numeric,
"Continuous",
Format( "Best", 10 ),
Set Property(
"Spec Limits",
{LSL( 104.41 ), USL( 131.89 ), Target( 118.15 )}
),
Set Values(
[114.555760105678, 113.52359591958, 114.946183872216, 116.25374611217,
110.287898508744, 119.847995090729, 113.877878795723, 113.106755626713,
114.832071507276, 115.737338527253, 120.193341974807, 113.425287275443,
., ., ., ., ., ., ., ., ., ., ., .]
),
Set Display Width( 0 )
),
New Column(
"Y2",
Numeric,
"Continuous",
Format( "Best", 10 ),
Set Property(
"Spec Limits",
{LSL( 164.39 ), USL( 429.65 ), Target( 297.02 )}
),
Set Values(
[322.616751775796, 323.833298568833, 301.607366273833, 278.646245766939,
469.298298488357, 332.715779503856, 346.462173291699, 213.59945858556,
291.464226219377, 345.449129206092, 242.233144838257, 423.564714196848,
291.370833295888, 333.921504947116, 288.644927205998, 258.806219486679,
263.935377860945, 276.312880747942, 322.144968498633, 341.978235063698,
316.143895248667, 302.164492808713, 319.751938178979, 269.802897971304]
),
Set Display Width( 0 )
),
Group Columns( "Processes", :Y1, 2 )
);
此表包含來自兩個進程的資料。第一個過程 (Y1) 對每個晶圓進行一次觀察。第二個過程 (Y2) 每個晶圓有兩個觀測結果。因此，Y2 的控製圖類型應為 XBar，Y1 的控製圖類型應為 IMR（單獨和移動極差）。
若要建立此分析，請選擇“分析”->“篩選”->“流程篩選”。將 Y1 和 Y2 分配給過程變數。將晶圓分配給子組。將圖表類型變更為 XBar 和 R。
或者，您可以執行以下 JSL：
obj=dt<< Process Screening(
Process Variables( :Y1, :Y2 ),
Control Chart Type( "XBar and R" ),
Subgroup( :wafer )
);
點擊確定後，您會發現如下分析：
XBar 和 R 圖表類型應用於 Y2。 Y1 應用了單獨測量和移動極差圖表類型。
顏色超出規格值
工藝能力和管理規格限制已經提供了處理超出規格限制的顏色值的方法。此功能已新增至製程篩選 JMP 16 中。
執行以下程式碼以開啟 Semiconductor Capability.jmp 並執行表中附加的 Process Screening 腳本。
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<<RUN script=""></RUN>
<P>若要為資料表中不符合規格值的顏色著色，請選擇「流程篩選」旁的紅色三角形，然後選擇「顯示功能」->「不符合規格值的顏色」。</P>
<P><SPAN class="lia-inline-image-display-wrapper lia-image-align-center" image-alt="color.png" style="width: 921px;"><span class="lia-inline-image-display-wrapper" image-alt="color.png" style="width: 921px;"><img src="https://us.v-cdn.net/6038925/uploads/images/32747i58DF4C6D9351272F/color.png" role="button" title="color.png" alt="color.png" /></span></SPAN></P>
<P>在資料表中，觀察值低於規格下限的儲存格顯示為紅色。觀察值高於規格上限的儲存格顏色為藍色。</P>
<P><SPAN class="lia-inline-image-display-wrapper lia-image-align-center" image-alt="coloredTable.png" style="width: 716px;"><span class="lia-inline-image-display-wrapper" image-alt="coloredTable.png" style="width: 716px;"><img src="https://us.v-cdn.net/6038925/uploads/images/32748iDA950C8B11BDED7C/coloredTable.png" role="button" title="coloredTable.png" alt="coloredTable.png" /></span></SPAN></P>
<H3 id="toc-hId-674858594" id="toc-hId-675816708">能夠為 K Sigma 指定 K</H3>
<P>過程監控經常受到過多誤報的困擾。這可能會導致警報被忽略。 JMP 16 中引入的 K Sigma 選項使用戶能夠指定 K。回想一下，限制是使用 +/- K * Sigma 計算的，增加 K 將擴大限制。這為您提供了一種降低警報敏感度、減少誤報的方法。</P>
<P>例如，執行以下命令：</P>
<CODE class=" language-jsl">dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<<PROCESS screening=""></PROCESS>
<P><SPAN class="lia-inline-image-display-wrapper lia-image-align-center" image-alt="3sigma.png" style="width: 841px;"><span class="lia-inline-image-display-wrapper" image-alt="3sigma.png" style="width: 841px;"><img src="https://us.v-cdn.net/6038925/uploads/images/32752iAD7F7B389914E9A2/3sigma.png" role="button" title="3sigma.png" alt="3sigma.png" /></span></SPAN></P>
<P>請注意，測試 1 中有 9 次違規。經調查，確定這些均為誤報。為了降低警報的靈敏度，可以調整 K Sigma。選擇分析->篩選->過程篩選。選擇 A2P1 作為製程變數。在批次 ID 中選擇晶圓 ID 作為子分組。在對話方塊的左下角，將 KSigma 改為 4。</P>
<P><SPAN class="lia-inline-image-display-wrapper lia-image-align-center" image-alt="ksigmadialog.png" style="width: 504px;"><span class="lia-inline-image-display-wrapper" image-alt="ksigmadialog.png" style="width: 504px;"><img src="https://us.v-cdn.net/6038925/uploads/images/32753iF7B79A41254D7C07/ksigmadialog.png" role="button" title="ksigmadialog.png" alt="ksigmadialog.png" /></span></SPAN></P>
<P> </P>
<P>按一下“確定”。</P>
<P><SPAN class="lia-inline-image-display-wrapper lia-image-align-center" image-alt="ksigmaresults.png" style="width: 843px;"><span class="lia-inline-image-display-wrapper" image-alt="ksigmaresults.png" style="width: 843px;"><img src="https://us.v-cdn.net/6038925/uploads/images/32754i7AE0D33439DB1844/ksigmaresults.png" role="button" title="ksigmaresults.png" alt="ksigmaresults.png" /></span></SPAN></P>
<P>與 KSigma 為 3（中心線 +/- 3*sigma）相比，KSigma 為 4 會導致控制限更寬（中心線 +/- 4*sigma）。此範例現在沒有違反測試 1 的情況，因為所有觀察結果均落在 4 西格瑪限制內。</P>
<P>JMP 16 中的流程篩選增加了三個關鍵新功能。</P>
<OL>
<LI>能夠在一次啟動中獲得 XBar 和 IMR 控製圖。</LI>
<LI>能夠對規格值進行著色和選擇。</LI>
<LI>能夠改變 KSigma 來提高或降低警報測試的靈敏度。</LI>
</OL>