프로세스 스크리닝을 사용하면 시간에 따라 수많은 프로세스를 탐색할 수 있습니다. JMP 16 에서는 이 플랫폼에 몇 가지 새로운 기능이 추가되었습니다. 이 블로그 게시물에서는 JMP 16에 도입된 공정 선별의 새로운 기능을 자세히 설명합니다.
단일 출시로 XBar 및 IMR 차트
회사에는 종종 진행 중인 프로세스가 많이 있습니다. 일부 프로세스에는 하위 그룹당 두 개 이상의 관측치가 있고 XBar 차트가 필요한 반면, 다른 프로세스에는 하위 그룹당 단일 관측치가 있고 IMR 차트가 필요할 수 있습니다. JMP 16부터는 단일 Process Screening 실행으로 두 차트 유형을 모두 얻을 수 있습니다.
다음 데이터 테이블을 고려하십시오.
dt=New Table( "Process Data",
Add Rows( 24 ),
New Column(
"wafer",
Numeric( 1 ),
"Nominal",
Set Values(
[1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12, 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10,
11, 12]
),
Set Display Width( 0 )
),
New Column(
"Y1",
Numeric,
"Continuous",
Format( "Best", 10 ),
Set Property(
"Spec Limits",
{LSL( 104.41 ), USL( 131.89 ), Target( 118.15 )}
),
Set Values(
[114.555760105678, 113.52359591958, 114.946183872216, 116.25374611217,
110.287898508744, 119.847995090729, 113.877878795723, 113.106755626713,
114.832071507276, 115.737338527253, 120.193341974807, 113.425287275443,
., ., ., ., ., ., ., ., ., ., ., .]
),
Set Display Width( 0 )
),
New Column(
"Y2",
Numeric,
"Continuous",
Format( "Best", 10 ),
Set Property(
"Spec Limits",
{LSL( 164.39 ), USL( 429.65 ), Target( 297.02 )}
),
Set Values(
[322.616751775796, 323.833298568833, 301.607366273833, 278.646245766939,
469.298298488357, 332.715779503856, 346.462173291699, 213.59945858556,
291.464226219377, 345.449129206092, 242.233144838257, 423.564714196848,
291.370833295888, 333.921504947116, 288.644927205998, 258.806219486679,
263.935377860945, 276.312880747942, 322.144968498633, 341.978235063698,
316.143895248667, 302.164492808713, 319.751938178979, 269.802897971304]
),
Set Display Width( 0 )
),
Group Columns( "Processes", :Y1, 2 )
);
이 테이블에는 두 프로세스의 데이터가 포함되어 있습니다. 첫 번째 프로세스(Y1)에는 웨이퍼당 하나의 관찰이 있습니다. 두 번째 프로세스(Y2)에는 웨이퍼당 두 개의 관찰이 있습니다. 따라서 관리도 유형은 Y2의 경우 XBar, Y1의 경우 IMR(개별 및 이동 범위)이어야 합니다.
이 분석을 생성하려면 분석->스크리닝->프로세스 스크리닝을 선택합니다. Y1과 Y2를 프로세스 변수에 할당합니다. 웨이퍼를 하위 그룹에 할당합니다. 차트 유형을 XBar 및 R로 변경합니다.
또는 다음 JSL을 실행할 수 있습니다.
obj=dt<< Process Screening(
Process Variables( :Y1, :Y2 ),
Control Chart Type( "XBar and R" ),
Subgroup( :wafer )
);
확인을 클릭하면 다음 분석을 찾을 수 있습니다.
Y2에는 XBar 및 R 차트 유형이 적용되었습니다. Y1에는 개별 측정 및 이동 범위 차트 유형이 적용되었습니다.
사양을 벗어난 색상 값
Process Capability 및 Manage Spec Limits에서는 이미 사양 한계를 벗어난 색상 값에 대한 방법을 제공했습니다. 이 기능은 공정 심사 JMP 16에 추가되었습니다.
다음 코드를 실행하여 Semiconductor Capability.jmp를 열고 테이블에 첨부된 Process Screening 스크립트를 실행합니다.
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<<RUN script=""></RUN>
<P>데이터 테이블에서 사양을 벗어난 값의 색상을 지정하려면 프로세스 선별 옆에 있는 빨간색 삼각형을 선택하고 기능 표시->사양을 벗어난 값 색상을 선택합니다.</P>
<P><SPAN class="lia-inline-image-display-wrapper lia-image-align-center" image-alt="color.png" style="width: 921px;"><span class="lia-inline-image-display-wrapper" image-alt="color.png" style="width: 921px;"><img src="https://us.v-cdn.net/6038925/uploads/images/32747i58DF4C6D9351272F/color.png" role="button" title="color.png" alt="color.png" /></span></SPAN></P>
<P>데이터 테이블에서 관측치가 사양 하한보다 낮은 셀은 빨간색으로 표시됩니다. 규격 상한을 초과하는 관측치가 있는 셀은 파란색으로 표시됩니다.</P>
<P><SPAN class="lia-inline-image-display-wrapper lia-image-align-center" image-alt="coloredTable.png" style="width: 716px;"><span class="lia-inline-image-display-wrapper" image-alt="coloredTable.png" style="width: 716px;"><img src="https://us.v-cdn.net/6038925/uploads/images/32748iDA950C8B11BDED7C/coloredTable.png" role="button" title="coloredTable.png" alt="coloredTable.png" /></span></SPAN></P>
<H3 id="toc-hId-674858594" id="toc-hId-675816704">K 시그마에 대해 K를 지정하는 기능</H3>
<P>프로세스 모니터링은 잘못된 경보가 너무 많아 문제가 되는 경우가 많습니다. 이로 인해 알람이 무시될 수 있습니다. JMP 16에 도입된 K 시그마 옵션을 사용하면 사용자가 K를 지정할 수 있습니다. 한계는 +/- K * 시그마를 사용하여 계산되며 K를 늘리면 한계가 넓어집니다. 이를 통해 경보의 민감도를 낮추고 허위 경보를 더 적게 생성할 수 있습니다.</P>
<P>예를 들어 다음을 실행합니다.</P>
<CODE class=" language-jsl">dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<<PROCESS screening=""></PROCESS>
<P><SPAN class="lia-inline-image-display-wrapper lia-image-align-center" image-alt="3sigma.png" style="width: 841px;"><span class="lia-inline-image-display-wrapper" image-alt="3sigma.png" style="width: 841px;"><img src="https://us.v-cdn.net/6038925/uploads/images/32752iAD7F7B389914E9A2/3sigma.png" role="button" title="3sigma.png" alt="3sigma.png" /></span></SPAN></P>
<P>테스트 1 위반은 9개입니다. 조사 결과 이들은 모두 허위 경보인 것으로 확인됐다. 경보의 민감도를 낮추기 위해 K Sigma를 조정할 수 있습니다. 분석->스크리닝->프로세스 스크리닝을 선택합니다. 프로세스 변수로 A2P1을 선택합니다. Lot ID에서 Wafer ID를 Subgrouping으로 선택합니다. 대화 상자 왼쪽 하단에서 KSigma를 4로 변경합니다.</P>
<P><SPAN class="lia-inline-image-display-wrapper lia-image-align-center" image-alt="ksigmadialog.png" style="width: 504px;"><span class="lia-inline-image-display-wrapper" image-alt="ksigmadialog.png" style="width: 504px;"><img src="https://us.v-cdn.net/6038925/uploads/images/32753iF7B79A41254D7C07/ksigmadialog.png" role="button" title="ksigmadialog.png" alt="ksigmadialog.png" /></span></SPAN></P>
<P> </P>
<P>확인을 클릭하세요.</P>
<P><SPAN class="lia-inline-image-display-wrapper lia-image-align-center" image-alt="ksigmaresults.png" style="width: 843px;"><span class="lia-inline-image-display-wrapper" image-alt="ksigmaresults.png" style="width: 843px;"><img src="https://us.v-cdn.net/6038925/uploads/images/32754i7AE0D33439DB1844/ksigmaresults.png" role="button" title="ksigmaresults.png" alt="ksigmaresults.png" /></span></SPAN></P>
<P>KSigma 4는 KSigma 3(중심선 +/- 3*시그마)에 비해 관리 한계가 더 넓어집니다(중심선 +/- 4*시그마). 이제 이 예에는 모든 관찰이 4 시그마 한계 내에 속하므로 테스트 1 위반이 없습니다.</P>
<P>JMP 16에서는 공정 선별에 세 가지 주요 새 기능이 추가되었습니다.</P>
<OL>
<LI>단일 실행으로 XBar 및 IMR 관리도를 보유할 수 있는 기능.</LI>
<LI>사양 값에서 색상을 지정하고 선택하는 기능입니다.</LI>
<LI>경보 테스트를 다소 민감하게 만들기 위해 KSigma를 변경하는 기능.</LI>
</OL>