工藝篩選使您能夠跨時間探索大量流程。 在這個平台上添加了幾個新功能JMP 16 . 這篇博文詳細介紹了 JMP 16 中引入的 Process Screening 的新功能。
XBar 和 IMR 圖表一次啟動
公司通常有許多正在進行的流程。 某些過程每個子組有一個以上的觀測值並需要 XBar 圖，而其他過程可能每個子組有一個觀測值並需要 IMR 圖。 從 JMP 16 開始，您可以通過一次 Process Screening 啟動獲得兩種圖表類型。
考慮以下數據表。
dt=New Table( "Process Data",
Add Rows( 24 ),
New Column(
"wafer",
Numeric( 1 ),
"Nominal",
Set Values(
[1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12, 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10,
11, 12]
),
Set Display Width( 0 )
),
New Column(
"Y1",
Numeric,
"Continuous",
Format( "Best", 10 ),
Set Property(
"Spec Limits",
{LSL( 104.41 ), USL( 131.89 ), Target( 118.15 )}
),
Set Values(
[114.555760105678, 113.52359591958, 114.946183872216, 116.25374611217,
110.287898508744, 119.847995090729, 113.877878795723, 113.106755626713,
114.832071507276, 115.737338527253, 120.193341974807, 113.425287275443,
., ., ., ., ., ., ., ., ., ., ., .]
),
Set Display Width( 0 )
),
New Column(
"Y2",
Numeric,
"Continuous",
Format( "Best", 10 ),
Set Property(
"Spec Limits",
{LSL( 164.39 ), USL( 429.65 ), Target( 297.02 )}
),
Set Values(
[322.616751775796, 323.833298568833, 301.607366273833, 278.646245766939,
469.298298488357, 332.715779503856, 346.462173291699, 213.59945858556,
291.464226219377, 345.449129206092, 242.233144838257, 423.564714196848,
291.370833295888, 333.921504947116, 288.644927205998, 258.806219486679,
263.935377860945, 276.312880747942, 322.144968498633, 341.978235063698,
316.143895248667, 302.164492808713, 319.751938178979, 269.802897971304]
),
Set Display Width( 0 )
),
Group Columns( "Processes", :Y1, 2 )
);
該表包含來自兩個進程的數據。 第一個過程 (Y1) 對每個晶片進行一次觀察。 第二個過程 (Y2) 每個晶片有兩個觀察值。 因此，Y2 的控製圖類型應為 XBar，Y1 的控製圖類型應為 IMR（個體和移動範圍）。
要創建此分析，請選擇分析->篩選->過程篩選。 將 Y1 和 Y2 分配給過程變量。 將晶圓分配給子組。 將圖表類型更改為 XBar 和 R。
或者，您可以運行以下 JSL：
obj=dt<< Process Screening(
Process Variables( :Y1, :Y2 ),
Control Chart Type( "XBar and R" ),
Subgroup( :wafer )
);
點擊確定後，會發現如下分析：
XBar 和 R 圖表類型應用於 Y2。 單個測量和移動極差圖表類型應用於 Y1。
顏色超出規格值
製程能力和管理規格限制已經提供了對超出規格限制的顏色值的方法。此功能已添加到 Process Screening JMP 16。
運行以下代碼以打開 Semiconductor Capability.jmp 並運行附在表中的 Process Screening 腳本。
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<<RUN script=""></RUN>
要為數據表中的超出規格值著色，請選擇 Process Screening 旁邊的紅色三角形，然後選擇 Show Capability->Color Out of Spec Values。
在數據表中，觀測值低於規格下限的單元格顯示為紅色。 觀測值高於規格上限的單元格為藍色。
能夠為 K Sigma 指定 K
過程監控經常受到太多誤報的困擾。 這可能導致警報被忽略。 JMP 16 中引入的 K Sigma 選項使用戶能夠指定 K。 回想一下，限制是使用 +/- K * Sigma 計算的，增加 K 會擴大限制。 這為您提供了一種使警報不那麼敏感、產生更少誤報的方法。
例如，運行以下命令：
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<<PROCESS screening=""></PROCESS>
請注意，有 9 次測試 1 違規。 經過調查，確定這些都是誤報。 為了使警報不那麼敏感，可以調整 K Sigma。 選擇分析->篩選->過程篩選。 選擇 A2P1 作為過程變量。 在批次 ID 中選擇 Wafer ID 作為子分組。在對話框的左下角，將 KSigma 更改為 4。
單擊確定。
與 KSigma 為 3（中心線 +/- 3*sigma）相比，KSigma 為 4 會導致控制限更寬（中心線 +/- 4*sigma）。此示例現在沒有違反測試 1，因為所有觀察值都在 4 西格瑪限值內。
JMP 16 的過程篩選中添加了三個關鍵的新功能。
- 能夠在一次啟動中獲得 XBar 和 IMR 控製圖。
- 顏色和選擇超出規格值的能力。
- 改變 KSigma 使警報測試或多或少敏感的能力。
