工艺筛选使您能够跨时间探索大量流程。 在这个平台上添加了几个新功能JMP 16 . 这篇博文详细介绍了 JMP 16 中引入的 Process Screening 的新功能。
XBar 和 IMR 图表一次启动
公司通常有许多正在进行的流程。 某些过程每个子组有一个以上的观测值并需要 XBar 图，而其他过程可能每个子组有一个观测值并需要 IMR 图。 从 JMP 16 开始，您可以通过一次 Process Screening 启动获得两种图表类型。
考虑以下数据表。
dt=New Table( "Process Data",
Add Rows( 24 ),
New Column(
"wafer",
Numeric( 1 ),
"Nominal",
Set Values(
[1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12, 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10,
11, 12]
),
Set Display Width( 0 )
),
New Column(
"Y1",
Numeric,
"Continuous",
Format( "Best", 10 ),
Set Property(
"Spec Limits",
{LSL( 104.41 ), USL( 131.89 ), Target( 118.15 )}
),
Set Values(
[114.555760105678, 113.52359591958, 114.946183872216, 116.25374611217,
110.287898508744, 119.847995090729, 113.877878795723, 113.106755626713,
114.832071507276, 115.737338527253, 120.193341974807, 113.425287275443,
., ., ., ., ., ., ., ., ., ., ., .]
),
Set Display Width( 0 )
),
New Column(
"Y2",
Numeric,
"Continuous",
Format( "Best", 10 ),
Set Property(
"Spec Limits",
{LSL( 164.39 ), USL( 429.65 ), Target( 297.02 )}
),
Set Values(
[322.616751775796, 323.833298568833, 301.607366273833, 278.646245766939,
469.298298488357, 332.715779503856, 346.462173291699, 213.59945858556,
291.464226219377, 345.449129206092, 242.233144838257, 423.564714196848,
291.370833295888, 333.921504947116, 288.644927205998, 258.806219486679,
263.935377860945, 276.312880747942, 322.144968498633, 341.978235063698,
316.143895248667, 302.164492808713, 319.751938178979, 269.802897971304]
),
Set Display Width( 0 )
),
Group Columns( "Processes", :Y1, 2 )
);
该表包含来自两个进程的数据。 第一个过程 (Y1) 对每个晶片进行一次观察。 第二个过程 (Y2) 每个晶片有两个观察值。 因此，Y2 的控制图类型应为 XBar，Y1 的控制图类型应为 IMR（个体和移动范围）。
要创建此分析，请选择分析->筛选->过程筛选。 将 Y1 和 Y2 分配给过程变量。 将晶圆分配给子组。 将图表类型更改为 XBar 和 R。
或者，您可以运行以下 JSL：
obj=dt<< Process Screening(
Process Variables( :Y1, :Y2 ),
Control Chart Type( "XBar and R" ),
Subgroup( :wafer )
);
点击确定后，会发现如下分析：
XBar 和 R 图表类型应用于 Y2。 单个测量和移动极差图表类型应用于 Y1。
颜色超出规格值
制程能力和管理规格限制已经提供了对超出规格限制的颜色值的方法。此功能已添加到 Process Screening JMP 16。
运行以下代码以打开 Semiconductor Capability.jmp 并运行附在表中的 Process Screening 脚本。
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<<RUN script=""></RUN>
要为数据表中的超出规格值着色，请选择 Process Screening 旁边的红色三角形，然后选择 Show Capability->Color Out of Spec Values。
在数据表中，观测值低于规格下限的单元格显示为红色。 观测值高于规格上限的单元格为蓝色。
能够为 K Sigma 指定 K
过程监控经常受到太多误报的困扰。 这可能导致警报被忽略。 JMP 16 中引入的 K Sigma 选项使用户能够指定 K。 回想一下，限制是使用 +/- K * Sigma 计算的，增加 K 会扩大限制。 这为您提供了一种使警报不那么敏感、产生更少误报的方法。
例如，运行以下命令：
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<<PROCESS screening=""></PROCESS>
请注意，有 9 次测试 1 违规。 经过调查，确定这些都是误报。 为了使警报不那么敏感，可以调整 K Sigma。 选择分析->筛选->过程筛选。 选择 A2P1 作为过程变量。 在批次 ID 中选择 Wafer ID 作为子分组。在对话框的左下角，将 KSigma 更改为 4。
单击确定。
与 KSigma 为 3（中心线 +/- 3*sigma）相比，KSigma 为 4 会导致控制限更宽（中心线 +/- 4*sigma）。此示例现在没有违反测试 1，因为所有观察值都在 4 西格玛限值内。
JMP 16 的过程筛选中添加了三个关键的新功能。
- 能够在一次启动中获得 XBar 和 IMR 控制图。
- 颜色和选择超出规格值的能力。
- 改变 KSigma 使警报测试或多或少敏感的能力。
