공정 스크리닝 시간에 따라 많은 프로세스를 탐색 할 수 있습니다. 이 플랫폼에 몇 가지 새로운 기능이 추가되었습니다. JMP 16 . 이 블로그 게시물은 JMP 16에 도입 된 프로세스 스크리닝의 새로운 기능에 대해 자세히 설명합니다.
한 번의 실행으로 XBar 및 IMR 차트
회사에는 종종 많은 진행중인 프로세스가 있습니다. 일부 공정에는 부분 군당 관측치가 두 개 이상 있고 XBar 관리도가 필요한 반면, 다른 공정에는 부분 군당 단일 관측치가 있고 IMR 관리도가 필요할 수 있습니다. JMP 16부터는 단일 프로세스 스크리닝 시작으로 두 가지 차트 유형을 모두 얻을 수 있습니다.
다음 데이터 테이블을 고려하십시오.
dt=New Table( "Process Data",
Add Rows( 24 ),
New Column(
"wafer",
Numeric( 1 ),
"Nominal",
Set Values(
[1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12, 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10,
11, 12]
),
Set Display Width( 0 )
),
New Column(
"Y1",
Numeric,
"Continuous",
Format( "Best", 10 ),
Set Property(
"Spec Limits",
{LSL( 104.41 ), USL( 131.89 ), Target( 118.15 )}
),
Set Values(
[114.555760105678, 113.52359591958, 114.946183872216, 116.25374611217,
110.287898508744, 119.847995090729, 113.877878795723, 113.106755626713,
114.832071507276, 115.737338527253, 120.193341974807, 113.425287275443,
., ., ., ., ., ., ., ., ., ., ., .]
),
Set Display Width( 0 )
),
New Column(
"Y2",
Numeric,
"Continuous",
Format( "Best", 10 ),
Set Property(
"Spec Limits",
{LSL( 164.39 ), USL( 429.65 ), Target( 297.02 )}
),
Set Values(
[322.616751775796, 323.833298568833, 301.607366273833, 278.646245766939,
469.298298488357, 332.715779503856, 346.462173291699, 213.59945858556,
291.464226219377, 345.449129206092, 242.233144838257, 423.564714196848,
291.370833295888, 333.921504947116, 288.644927205998, 258.806219486679,
263.935377860945, 276.312880747942, 322.144968498633, 341.978235063698,
316.143895248667, 302.164492808713, 319.751938178979, 269.802897971304]
),
Set Display Width( 0 )
),
Group Columns( "Processes", :Y1, 2 )
);
이 테이블에는 두 프로세스의 데이터가 포함되어 있습니다. 첫 번째 프로세스 (Y1)에는 웨이퍼 당 하나의 관찰이 있습니다. 두 번째 프로세스 (Y2)에는 웨이퍼 당 두 개의 관찰이 있습니다. 따라서 관리도 유형은 Y2의 경우 XBar, Y1의 경우 IMR (개별 및 이동 범위)이어야합니다.
이 분석을 생성하려면 분석-> 스크리닝-> 공정 스크리닝을 선택합니다. 프로세스 변수에 Y1 및 Y2를 할당합니다. 하위 그룹에 웨이퍼를 할당합니다. 차트 유형을 XBar 및 R로 변경합니다.
또는 다음 JSL을 실행할 수 있습니다.
obj=dt<< Process Screening(
Process Variables( :Y1, :Y2 ),
Control Chart Type( "XBar and R" ),
Subgroup( :wafer )
);
확인을 클릭하면 다음 분석을 찾을 수 있습니다.
XBar 및 R 차트 유형이 Y2에 적용되었습니다. Y1에는 개별 측정 및 이동 범위 차트 유형이 적용되었습니다.
사양 값을 벗어난 색상
공정 능력 과 사양 제한 관리 사양 한계를 벗어난 값에 색상을 지정하는 방법을 이미 제공했습니다.이 기능은 Process Screening JMP 16에 추가되었습니다.
다음 코드를 실행하여 Semiconductor Capability.jmp를 열고 테이블에 첨부 된 Process Screening 스크립트를 실행합니다.
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<<RUN script=""></RUN>
데이터 테이블에서 사양을 벗어난 값에 색상을 지정하려면 프로세스 스크리닝 옆에있는 빨간색 삼각형을 선택하고 기능 표시-> 사양 값을 벗어난 색상을 선택합니다.
데이터 테이블에서 관측치가 사양 하한 아래로 떨어지는 셀은 빨간색으로 표시됩니다. 관측치가 규격 상한을 초과하는 셀은 파란색으로 표시됩니다.
K 시그마에 K를 지정하는 기능
프로세스 모니터링은 종종 너무 많은 잘못된 경보로 인해 어려움을 겪습니다. 이로 인해 경보가 무시 될 수 있습니다. JMP 16에 도입 된 K 시그마 옵션은 사용자에게 K를 지정할 수있는 기능을 제공합니다. +/- K * Sigma를 사용하여 한계를 계산하고 K를 늘리면 한계가 넓어집니다. 이를 통해 경보의 민감도를 낮추고 잘못된 경보를 더 적게 생성 할 수 있습니다.
예를 들어 다음을 실행하십시오.
dt=Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");
obj=dt<<PROCESS screening=""></PROCESS>
9 개의 테스트 1 위반이 있습니다. 조사 결과, 모두 잘못된 경보 인 것으로 확인되었습니다. 경보의 민감도를 낮추기 위해 K Sigma를 조정할 수 있습니다. Analyze-> Screening-> Process Screening을 선택합니다. A2P1을 프로세스 변수로 선택하십시오. 로트 ID에서 웨이퍼 ID를 하위 그룹으로 선택합니다.대화 상자의 왼쪽 하단에서 KSigma를 4로 변경합니다.
확인을 클릭하십시오.
KSigma가 4이면 KSigma가 3 (중앙선 +/- 3 * sigma) 인 것에 비해 제어 한계가 더 넓어집니다 (중앙선 +/- 4 * sigma).모든 관측치가 4 시그마 한계 내에 속하므로이 예에는 이제 검정 1 위반이 없습니다.
JMP 16의 Process Screening에 세 가지 주요 새로운 기능이 추가되었습니다.
- 한 번의 실행으로 XBar 및 IMR 관리도를 가질 수있는 기능.
- 색상을 지정하고 사양 값을 선택하는 기능.
- 경보 테스트를 다소 민감하게 만들기 위해 KSigma를 변경하는 기능.
