過程能力物理邊界如何在過程能力分析中設置物理邊界。例如，當我評估在材料中痕量元素規格範圍內測量的能力時，大多數數據將接近零，但不能小於零。這會導致高度偏斜的分佈，大量數據堆積在零附近，然後分佈只有一側的尾巴。但是能力分析我無法找到將零設置為物理邊界的方法，因此 Ppk 值總是人為地偏低，因為統計擬合分佈假設尾部小於零。有沒有其他方法可以彌補此功能的不足。我永遠不想以任何方式稱讚 Minitab 而不是 JMP，但 Minitab 確實可以選擇設置物理邊界，而且我一生都無法在 JMP 中找到這樣的選項。
分析回复：過程能力物理邊界如果您的數據不服從正態分佈，您應該使用其中一種非正態分佈。如果沒有看到您的數據，很難說出合適的分佈。聽起來對數正態分佈可能有效。您可以在 Object Scripting Index 中找到這樣的示例。
dt = Open( "$SAMPLE_DATA/Process Measurements.jmp" );
obj =
Process Capability(
Process Variables(
:Process 1 & Dist( Lognormal )
),
Individual Detail Reports( 1 )
);
obj << {(:Process 1 & Dist( Lognormal )) <<
Process Capability Analysis(
Compare Distributions( 1, <<FIT lognormal=""></FIT>
