공정 능력 물리적 경계공정 능력 분석에서 물리적 경계를 어떻게 설정할 수 있습니까?예를 들어, 재료의 미량 원소 사양 내에서 측정 할 수있는 능력을 평가할 때 대부분의 데이터는 0에 가깝지만 0보다 작을 수는 없습니다.이로 인해 데이터의 대부분이 0 부근에 쌓이는 고도로 치우친 분포가 생성되고 분포에는 단측 꼬리 만 있습니다.그러나 공정 능력 분석에서는 0을 물리적 경계로 설정하는 방법을 찾을 수 없으므로 통계적 적합 분포가 꼬리가 0보다 작다고 가정하기 때문에 Ppk 값은 항상 인위적으로 낮습니다.이 기능의 부족을 보완 할 수있는 다른 방법이 있습니까?JMP보다 Minitab을 칭찬하고 싶지는 않지만 Minitab에는 물리적 경계를 설정할 수있는 옵션이 있으며 JMP에서 그러한 옵션을 평생 찾을 수 없습니다.
해석학Re : 공정 능력 물리적 경계데이터가 정규 분포를 따르지 않는 경우 비정규 분포 중 하나를 사용해야합니다.데이터를 보지 않고 적절한 분포를 말하기는 어렵습니다.아마도 Lognormal 분포가 작동하는 것처럼 들립니다.이에 대한 예는 Object Scripting Index에서 찾을 수 있습니다.
dt = Open( "$SAMPLE_DATA/Process Measurements.jmp" );
obj =
Process Capability(
Process Variables(
:Process 1 & Dist( Lognormal )
),
Individual Detail Reports( 1 )
);
obj << {(:Process 1 & Dist( Lognormal )) <<
Process Capability Analysis(
Compare Distributions( 1, <<FIT lognormal=""></FIT>
