分散成分分析 - 製造プロセスこんにちは、みんな、
複数のステップからなる製造プロセスに伴うばらつきを理解したいと考えています。これを行う方法は、変動/属性ゲージ チャートを使用してプロットをプロットし、次に変動成分分析を使用することだと思います。しかし、どのような変動モデル (交差モデル、ネストモデルなど) を使用すればよいかわかりません。そうは言っても、もう少し詳しく説明しましょう。
原材料の入力 (カードと呼びます) は 2 つの主要なプロセス (プロセス 1 とプロセス 2 と呼びます) を経ます。プロセス 1 では、カードを化学的に処理する機械に置きます。機械はロット全体を収容できるほど大きくないため、ロット全体が完了するまでロットのサブセットを順番に処理します。これらのサブセットはサブロットと呼ばれ、24 枚のカードで構成されます。 プロセス 1 マシン内には 2 つの棚があり、各棚には 12 枚のカードが収容されます。カードがどの棚に置かれるかによって結果が異なる可能性があることが以前に判明したため、これと棚上の特定の位置を追跡します。
カードがプロセス 1 から出たら、プロセス 2 に移動します。プロセス 2 では、カードを別の方法で化学的に処理し、これを 20 枚実行します。通常、カードがプロセス 1 から出てきたら、プロセス 2 で順番に実行します。したがって、プロセス 2 の実行 1 には、プロセス 1 のサブロット 1 からの 24 枚のカードのうち 20 枚が含まれます。プロセス 2 の実行 2 には、サブロット 1 からの 4 枚のカードとサブロット 1 からの 16 枚のカードが含まれます。サブロット2など
それで、それがすべて意味があるとすれば、私の質問は、このデータセットの変動成分分析をどのように実行するかということです。プロセス1では、棚と棚上の位置がサブロットにネストされていると考えています。次に、これをプロセス 2 の実行と交差させます。しかし、これについては概念的なレベルでよくわかりませんし、JMP にこの分析を実行させる方法もまったくわかりません。
助けていただければ幸いです。ありがとう、
-マット
品質およびプロセスエンジニアリングRe: 分散成分分析 - 製造プロセス補完するもう 1 つの考え@スタットマンさんの考えは、応答とネスト パターンを表示するためにグラフ ビルダーを検討することです。 対話的にさまざまなレイヤーを x 軸にドラッグ アンド ドロップして、さまざまなレイヤーの応答の平均と分散を調べることができます。 図をミラーリングすると、 @スタットマン作成することを提案します。
Re: 分散成分分析 - 製造プロセス@スタットマン送っていただきありがとうございます。 見てみましょう。
OFAT が意味するのは、サブロット、シェルフ、ランの影響を一度に 1 つずつ簡単に確認できるということです。 しかし、あなたが言ったように、私たちは交流を逃すことになります。Re: 分散成分分析 - 製造プロセス測定値にどの程度自信がありますか? それを勉強したことがありますか？ 数値化しましたか？
なぜデータを「OFAT」方式で見るのか理解できません。 もちろん、潜在的なやり取りを逃すことになります。
分析は常に実践的>グラフィック>定量的な私見であるべきです。
適合モデルをブラッシュアップするためにできることはいくつかあります。 JMP にはいくつかのオンライン オプションが用意されています。
https://www.jmp.com/en_us/events/getting-started-with-jmp/overview.html
常に ? を使用することもできます。ソフトウェア内で各プラットフォームに関する情報を呼び出します。
https://www.jmp.com/support/help/en/16.0/?os=mac&source=application&utm_source=helpmenu&utm_medium=application#page/jmp/model-specation.shtml#
Re: 分散成分分析 - 製造プロセスありがとう@スタットマン。 いくつかの答え:
2. 最後に一度測定するだけ
6. 通常、データを視覚化し、OFAT 方式でスライスするのに時間がかかります。
7。 見てみましょう。 フィットモデルは私にとって常にブラックボックスのようなものでした。 この機能について学習を始めるための資料についてご提案があれば、いただければ幸いです。Re: 分散成分分析 - 製造プロセス@バーナベイ、コミュニティへようこそ。 私の考えの一部を共有します。
1. 棚がサブプロット内にネストされており、棚上の場所が棚内にネストされており、これらのコンポーネントが原材料のロット内にネストされており、メジャーが 1 つしかない場合、メジャーが場所と混同されていることに同意します。
2. 最初の工程以降は何も対策していないのでは？ 応答変数は 1 つだけですか?
3. プロセス ステップ 2 はプロセス ステップ 2 から独立しているように見えますが、ステップ 1 とステップ 2 の間に相互作用がある可能性があるため、これらは交差しているものとして扱われる可能性があります。
4. 測定値はスタディ内にネストされます。
5. 分析のためにできることはたくさんあります。 組み込みの分散コンポーネントが、あなたが説明したプロセスの複雑さを処理できるほど柔軟性があるとは思えません。 研究を表す木を描きます。 ツリーの各「レイヤー」に関連付けられた番号に注意してください。
6. まずデータをグラフ (変動プロット) で見て、捕捉された変動が実際に実用的な意味を持つものであることを確認します。
7. 定量的な場合は、適切な交差項やネスト項を追加した分析適合モデルを使用する可能性があります。
