可视化来自一个单元内多个度量的空间信息；由JSL支持<meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=UTF-8" />托尼·库珀（Tony Cooper），博士，SAS首席分析顾问
SAS首席技术顾问Sam Edgemon
半导体晶圆制造和CMM（坐标测量机）可为单个零件提供许多测量。单元内重复测量的另一个示例是缺陷计数。该数据包括单位内的位置。使用空间信息进行建模可能很困难，但在可视化中应始终使用空间信息。该数据提供的潜在信息包括：“当前单位是否与其他近期单位相似？”和“机会集中在单位内？”可以使用主成分分析（PCA），多元控制图和聚类分析和可视化此数据。最重要的是，将使用JMP中的自定义映射来可视化数据。为了进行分析，将需要不止一种数据安排；分割数据以用于PCA和群集，还可以将群集信息与原始堆栈视图合并。本演示文稿介绍了一种方法，该方法简化了JMP脚本，以在控制图上指示相似的处理时间段，然后在每个时间段内映射零件内信息。
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数据可视化
