JMP의 신뢰성 R & D 전문가 인 Peng Liu 박사가 다음 수요일에 발표 할 IEEE Boston / Providence / New Hampshire Reliability Chapter의 초청 연사로 초대되었습니다 (Jay에게 감사합니다!). 2 월 24 일 일 오전 11시 ET . Liu 박사는 신뢰성 및 생존 데이터 분석, 신뢰성 엔지니어링 및 시간 순서 분석을위한 JMP 플랫폼 개발 및 유지 보수를 담당합니다.
Dr. Liu의 이야기,“ JMP 신뢰성 플랫폼 – 확대 후 축소 소개 ”는 제품이 의도 한대로 계속 작동하도록 보장하기 위해 신뢰성 전문가가 활용하는 다양한 사용 사례를 포함하여 가속 수명 테스트 데이터를 분석하는 베이지안 모델링 기능뿐만 아니라 보증 예측의 라이브 데모를 제공하여 행복한 고객을 생성합니다.
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