La dott.ssa Peng Liu, esperta di ricerca e sviluppo sull'affidabilità presso JMP, è stata invitata (grazie Jay!) Come relatore ospite dall'IEEE Boston / Providence / New Hampshire Reliability Chapter a presentare mercoledì prossimo 24 febbraio th alle 11:00 ET . Il Dr. Liu è responsabile dello sviluppo e della manutenzione delle piattaforme JMP per l'analisi dei dati di affidabilità e sopravvivenza, ingegneria dell'affidabilità e analisi della sequenza temporale.
Il discorso del dottor Liu, " Piattaforme di affidabilità JMP - Introduzione allo zoom avanti e poi indietro ", Conterrà una dimostrazione dal vivo delle previsioni di garanzia e della capacità di modellazione bayesiana di analizzare i dati dei test di vita accelerati, inclusi vari casi d'uso che i professionisti dell'affidabilità utilizzano per garantire che i prodotti continuino a funzionare come previsto, generando clienti soddisfatti.
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