Dr. Peng Liu, ein Experte für Zuverlässigkeitsforschung und -entwicklung bei JMP, wurde (danke Jay!) Als Gastredner vom IEEE Boston / Providence / New Hampshire Reliability Chapter eingeladen, um am kommenden Mittwoch zu präsentieren 24. Februar th um 11 Uhr ET . Dr. Liu ist verantwortlich für die Entwicklung und Wartung der JMP-Plattformen für Zuverlässigkeits- und Überlebensdatenanalyse, Zuverlässigkeitstechnik und Zeitsequenzanalyse.
Dr. Lius Vortrag: „ JMP-Zuverlässigkeitsplattformen - Einführung zum Vergrößern und Verkleinern Einführung “Wird eine Live-Demonstration der Garantieprognose sowie die Bayes'sche Modellierungsfunktion zur Analyse beschleunigter Lebensdauertestdaten enthalten, einschließlich verschiedener Anwendungsfälle, die Zuverlässigkeitsexperten verwenden, um sicherzustellen, dass Produkte weiterhin wie beabsichtigt funktionieren und zufriedene Kunden generieren.
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