Le Dr Peng Liu, un expert en recherche et développement en fiabilité chez JMP, a été invité (merci Jay!) En tant que conférencier invité par le chapitre de la fiabilité de l'IEEE Boston / Providence / New Hampshire à présenter mercredi prochain 24 février e à 11 h HE . Le Dr Liu est responsable du développement et de la maintenance des plates-formes JMP pour l'analyse des données de fiabilité et de survie, l'ingénierie de la fiabilité et l'analyse des séquences temporelles.
Discours du Dr Liu, " Plates-formes de fiabilité JMP - Présentation d'un zoom avant puis d'un zoom arrière », Présentera une démonstration en direct de la prévision de la garantie ainsi que la capacité de modélisation bayésienne d'analyse des données de test de durée de vie accélérée, y compris divers cas d'utilisation que les professionnels de la fiabilité utilisent pour s'assurer que les produits continuent de fonctionner comme prévu, générant des clients satisfaits.
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