El Dr. Peng Liu, un experto en I + D en confiabilidad en JMP, ha sido invitado (¡gracias Jay!) Como orador invitado por el Capítulo de confiabilidad de IEEE Boston / Providence / New Hampshire para presentar el próximo miércoles 24 de febrero th a las 11 am ET . El Dr. Liu es responsable de desarrollar y mantener las plataformas de JMP para análisis de datos de confiabilidad y supervivencia, ingeniería de confiabilidad y análisis de secuencia de tiempo.
La charla del Dr. Liu, " Plataformas de confiabilidad de JMP: una introducción para acercar y luego alejar ”, Contará con una demostración en vivo del pronóstico de garantía, así como la capacidad de modelado bayesiano para analizar datos de pruebas de vida aceleradas, incluidos varios casos de uso que los profesionales de confiabilidad utilizan para garantizar que los productos continúen funcionando según lo previsto, generando clientes felices.
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