大家好,
在我的工作中,我们将主题划分为多个拆分,并检查每个拆分中某些参数的变化。
假设我们有100个要测量的参数,那里有8个分割。 通过JMP分析,我们获得了100个图形(针对100个参数),并在x轴上进行了分割。
现在,我想在每个图形中阴影一定的分割。 我检查了各种选项,但无法同时进行。
有什么方法可以执行此操作?
谢谢
我不确定这是否是您在说的,这是我对您想要的猜测。

Names Default To Here( 1 );
dt = Open( "$SAMPLE_DATA/semiconductor capability.jmp" );
dt << New Column( "Split", character, set each value( Char( Mod( :wafer, 5 ) + 1 ) ) );
colNames = dt << get column names( continuous );
vc = Variability Chart( Y( Eval( colNames ) ), X( :split ), Std Dev Chart( 0 ) );
For( k = 1, k <= N Items( colNames ), k++,
mymax = Report( vc[k] )[axisbox( 1 )] << get max;
mymin = Report( vc[k] )[axisbox( 1 )] << get min;
Eval(
Substitute(
Expr(
Report( vc[k] )[framebox( 1 )] << add graphics script(
Transparency( .5 );
Fill Color( "yellow" );
Rect( 2, __Max__, 3, __Min__, fill = 1 );
)
),
Expr( __max__ ), mymax,
Expr( __min__ ), mymin
)
);
);