Wie berechnet man mit JMP Lot-Lot-, Wafer-Wafer- und Wafer-Variationen?Meine Frage ist, wie ich JMP verwenden kann, um Lot-zu-Lot, Wafer-zu-Wafer, Variationen innerhalb des Wafers zu berechnen und die Gleichmäßigkeit zu quantifizieren.
Ich habe zum Beispiel eine Tabelle, in dieser Tabelle gibt es die Spalte „Los“, die Spalte „Wafer“ und die Spalte „Site“ sowie eine Datenspalte.
Innerhalb desselben Loses gibt es 15 Wafer, innerhalb desselben Wafers gibt es 20 Standorte. Die Frage ist also, wie man JMP verwenden kann, um den Prozentsatz von Los zu Los, Wafer zu Wafer, innerhalb des Wafers zu berechnen und zu quantifizieren, oder wie man zeigen kann, welcher den größten Beitrag leistet Formel haben?
Danke
MassenanpassungBetreff: Wie berechnet man mit JMP Lot-zu-Lot, Wafer-zu-Wafer und Abweichungen innerhalb des Wafers?Es gibt zwei Ansätze zur Schätzung von Varianzkomponenten. Angenommen, Ihr Stichprobenplan ist verschachtelt (hierarchisch) und könnte wie folgt aussehen:
Zur Analyse der Daten können Sie die Kontrolldiagrammmethode verwenden. Dies würde auf der Ebene innerhalb des Wafers mit einem Bereichsdiagramm beginnen, um die Konsistenz innerhalb des Wafers zu bestimmen (wenn sie stabil und konsistent ist, schätzen Sie die Varianz durch Vww = (Rbar/d2)^2) und dann den inneren Wafer mit den anderen Komponenten in vergleichen die Studie mit einem Xbar-Diagramm (die Kontrollgrenzen sind eine Funktion der Variabilität innerhalb des Wafers) ... wenn der Xbar außer Kontrolle gerät, dann „rollen Sie den Baum auf“, indem Sie die Daten innerhalb des Wafers zusammenfassen und einen neuen erstellen Untergruppe basierend auf der Wafer-zu-Wafer-Variation usw. Dies ermöglicht sowohl die Beurteilung der Konsistenz als auch die Schätzung der Varianzkomponenten.
Die zweite Möglichkeit wäre (wie vorgeschlagen), ein Variabilitätsdiagramm zu erstellen (Ihre Komponenten müssen auf nominal eingestellt sein) und JMP die Varianzkomponenten für eine verschachtelte Studie berechnen zu lassen.
Betreff: Wie berechnet man mit JMP Lot-zu-Lot, Wafer-zu-Wafer und Abweichungen innerhalb des Wafers?Ich denke, Sie können das Variabilitätsdiagramm verwenden und dann „Varianzkomponenten“ auswählen.
Der Abschlussbericht würde so aussehen:
Probieren Sie es also aus!
Betreff: Wie berechnet man mit JMP Lot-zu-Lot, Wafer-zu-Wafer und Abweichungen innerhalb des Wafers?Können Sie eine Teilmenge Ihrer Tabelle teilen?
