Wie wird JMP verwendet, um Lot zu Lot, Wafer zu Wafer, innerhalb der Wafervariation zu berechnen?Meine Frage ist, wie man JMP verwendet, um Lot zu Lot, Wafer zu Wafer, innerhalb der Wafervariation zu berechnen und die Gleichmäßigkeit zu quantifizieren.
Zum Beispiel habe ich eine Tabelle, in dieser Tabelle haben Spalte "Los", Spalte "Wafer", Spalte "Site", enthält auch eine Datenspalte.
Innerhalb desselben Loses gibt es 15 Wafer, innerhalb desselben Wafers 20 Standorte. Die Frage ist also, wie mit JMP der Prozentsatz von Los zu Los, Wafer zu Wafer, innerhalb des Wafers berechnet und quantifiziert werden kann oder wie gezeigt werden kann, welcher der Hauptverursacher ist Formel haben?
Vielen Dank
AnalytikSkriptingBetreff: Wie wird JMP verwendet, um Lot zu Lot, Wafer zu Wafer, innerhalb der Wafervariation zu berechnen?Können Sie eine Teilmenge Ihrer Tabelle freigeben?Betreff: Wie wird JMP verwendet, um Lot zu Lot, Wafer zu Wafer, innerhalb der Wafervariation zu berechnen?Ich denke, Sie können das Variabilitätsdiagramm verwenden und dann "Varianzkomponenten" auswählen.
Der Abschlussbericht würde folgendermaßen aussehen:
Probieren Sie es aus!
Betreff: Wie wird JMP verwendet, um Lot zu Lot, Wafer zu Wafer, innerhalb der Wafervariation zu berechnen?Es gibt zwei Ansätze zur Schätzung von Varianzkomponenten. Angenommen, Ihr Stichprobenplan ist verschachtelt (hierarchisch) und sieht möglicherweise folgendermaßen aus:
Sie können die Kontrolldiagrammmethode verwenden, um die Daten zu analysieren. Dies würde an der inneren Waferschicht mit einem Bereichsdiagramm beginnen, um die Konsistenz innerhalb des Wafers zu bestimmen (wenn es stabil und konsistent ist, schätzen Sie die Varianz durch Vww = (Rbar / d2) ^ 2) und vergleichen Sie dann den inneren Wafer mit den anderen Komponenten in die Studie mit einem Xbar-Diagramm (die Kontrollgrenzen sind eine Funktion der Variabilität innerhalb des Wafers) ... Wenn der Xbar außer Kontrolle gerät, rollen Sie den Baum auf, indem Sie die Daten innerhalb des Wafers zusammenfassen und einen neuen erstellen Untergruppe basierend auf Variation von Wafer zu Wafer usw. Dies ermöglicht sowohl die Bewertung der Konsistenz als auch die Schätzung der Varianzkomponenten.
Der zweite Weg wäre (wie vorgeschlagen), ein Variabilitätsdiagramm zu erstellen (Ihre Komponenten müssen auf nominal eingestellt sein) und JMP die Varianzkomponenten für eine verschachtelte Studie berechnen zu lassen.
