Wie berechnet man mit JMP Lot-Lot-, Wafer-Wafer- und Wafer-Variationen?Meine Frage ist, wie ich JMP verwenden kann, um Lot-zu-Lot, Wafer-zu-Wafer, Variationen innerhalb des Wafers zu berechnen und die Gleichmäßigkeit zu quantifizieren.
Ich habe zum Beispiel eine Tabelle, in dieser Tabelle gibt es die Spalte „Los“, die Spalte „Wafer“ und die Spalte „Site“ sowie eine Datenspalte.
Innerhalb derselben Charge gibt es 15 Wafer, innerhalb desselben Wafers 20 Standorte. Die Frage ist also, wie JMP verwendet werden kann, um Charge für Charge, Wafer für Wafer, Abweichungen innerhalb der Wafer zu berechnen und die Gleichmäßigkeit zu quantifizieren.
Danke
Erweiterte statistische ModellierungMassenanpassungBetreff: Wie berechnet man mit JMP Lot-zu-Lot, Wafer-zu-Wafer und Abweichungen innerhalb des Wafers?Sie beschreiben einen verschachtelten (oder hierarchischen) Stichprobenplan. Der Stichprobenbaum könnte etwa so aussehen:
Als @P_Bartell legt nahe, dass die Betrachtung der Daten mit Variabilitätsdiagrammen ein guter erster Schritt ist. Ich bin mir nicht sicher, was Sie mit „Einheitlichkeit“ meinen? Um die Konsistenz zu verstehen, können Sie Bereichsdiagramme verwenden. Beginnen Sie am unteren Ende des Stichprobenbaums (der kleinsten rationalen Untergruppe). Wenn dies stabil ist, rollen Sie den Baum auf und beurteilen Sie die Variabilität in der nächsten Schicht.
Wenn Sie die Varianzkomponenten quantifizieren möchten (ohne die Konsistenz zu verstehen), stellen Sie sicher, dass die Datentypen nominal sind. Geben Sie unter „Analysieren“ > „Qualität und Prozess“ > „Variabilität/Attributmessgerät“ die Antwortvariable in das Feld „Y, Antwort“ ein. Geben Sie den Baum von oben nach unten in das Feld „X, Gruppierung“ ein. Wählen Sie den Modelltyp „Geschachtelt“. Dadurch wird ein Variabilitätsdiagramm erstellt. Wählen Sie das rote Dreieck neben der Variabilitätsanzeige und dann Varianzkomponenten aus. Dadurch erhalten Sie ANOVA- und Varianzkomponenten.
Betreff: Wie berechnet man mit JMP Lot-zu-Lot, Wafer-zu-Wafer und Abweichungen innerhalb des Wafers?Vielleicht möchten Sie mit etwas Einfachem wie einem Variabilitätsdiagramm beginnen ... aber möglicherweise gibt es einige räumliche Merkmale der Daten, die von Interesse sind ... scheint bei der Bewertung/Quantifizierung/Visualisierung der Waferqualität immer so zu sein.
Es gab viele Blogs, JMP Discovery Summit-Präsentationen, Add-Ins und andere Ressourcen zu diesem Thema ... eine Suche in der JMP-Benutzer-Community sollte einige nützliche Ressourcen ergeben. Mein ehemaliger Kollege @MikeD_Anderson hat mehr über die Visualisierung von Halbleiterdaten vergessen, als ich jemals erfahren werde. Vielleicht möchten Sie nach seinem Namen suchen, um seine Beiträge zu finden?
