Wie wird JMP verwendet, um Lot zu Lot, Wafer zu Wafer, innerhalb der Wafervariation zu berechnen?Meine Frage ist, wie man JMP verwendet, um Lot zu Lot, Wafer zu Wafer, innerhalb der Wafervariation zu berechnen und die Gleichmäßigkeit zu quantifizieren.
Zum Beispiel habe ich eine Tabelle, in dieser Tabelle haben Spalte "Los", Spalte "Wafer", Spalte "Site", enthält auch eine Datenspalte.
Innerhalb desselben Loses gibt es 15 Wafer, innerhalb desselben Wafers 20 Stellen. Die Frage ist also, wie JMP verwendet werden kann, um Los zu Los, Wafer zu Wafer, innerhalb der Wafervariation zu berechnen und die Gleichmäßigkeit zu quantifizieren.
Vielen Dank
AnalytikSkriptingBetreff: Wie wird JMP verwendet, um Lot zu Lot, Wafer zu Wafer, innerhalb der Wafervariation zu berechnen?Sie beschreiben einen verschachtelten (oder hierarchischen) Stichprobenplan. Der Stichprobenbaum könnte ungefähr so aussehen:
Wie @P_Bartell schlägt vor, die Daten mit Variabilitätsdiagrammen zu betrachten, ist ein guter erster Schritt. Ich bin mir nicht sicher, was Sie unter "Einheitlichkeit" verstehen? Um die Konsistenz zu verstehen, können Sie Bereichsdiagramme verwenden. Beginnen Sie am unteren Rand des Stichprobenbaums (der kleinsten rationalen Untergruppe). Wenn dies stabil ist, rollen Sie den Baum auf und bewerten Sie die Variabilität in der nächsten Schicht.
Wenn Sie die Varianzkomponenten quantifizieren möchten (ohne die Konsistenz zu verstehen), stellen Sie sicher, dass die Datentypen nominal sind. Analysieren Sie> Qualität und Prozess> Variabilität / Attributanzeige. Geben Sie die Antwortvariable in das Feld Y, Antwort ein. Geben Sie den Baum von oben nach unten in das Feld X, Gruppierung ein. Wählen Sie den Modelltyp Verschachtelt. Dadurch wird ein Variabilitätsdiagramm erstellt. Wählen Sie das rote Dreieck neben dem Variabilitätsmesser aus und wählen Sie dann Varianzkomponenten. Dadurch erhalten Sie ANOVA- und Varianzkomponenten.
Betreff: Wie wird JMP verwendet, um Lot zu Lot, Wafer zu Wafer, innerhalb der Wafervariation zu berechnen?Vielleicht möchten Sie mit etwas Einfachem wie einem Variabilitätsdiagramm beginnen ... aber es kann einige räumliche Merkmale der Daten geben, die von Interesse sind ... es scheint, als gäbe es immer eine Bewertung / Quantifizierung / Visualisierung der Waferqualität.
Es gab viele Blogs, Präsentationen zum JMP Discovery Summit, Add Ins und andere Ressourcen zu diesem Thema ... Eine Suche in der JMP User Community sollte einige nützliche Ressourcen liefern. Mein ehemaliger Kollege @ MikeD_Anderson hat mehr über die Visualisierung von Halbleiterdaten vergessen, als ich jemals erfahren werde. Vielleicht möchten Sie nach seinem Namen suchen, um seine Beiträge zu finden?
