¿Cómo utilizar JMP para calcular lote a lote, oblea a oblea, dentro de la variación de oblea?Mi pregunta es cómo usar JMP para calcular lote a lote, oblea a oblea, dentro de la variación de oblea y cuantificar la uniformidad.
por ejemplo, tengo una tabla, en esta tabla tengo la columna "lote", la columna "oblea", la columna "sitio", también incluye una columna de datos.
dentro del mismo lote tienen 15 obleas, dentro de la misma oblea tienen 20 sitios, entonces la pregunta es cómo usar JMP para calcular lote a lote, oblea a oblea, dentro de la variación de oblea y cuantificar la uniformidad.
Gracias
AnalíticaScriptingRe: ¿cómo utilizar JMP para calcular lote a lote, oblea a oblea, dentro de la variación de oblea?Está describiendo un plan de muestreo anidado (o jerárquico). El árbol de muestreo podría verse así:
Como @P_Bartell sugiere, mirar los datos con gráficos de variabilidad es un buen primer paso. No estoy seguro de lo que quiere decir con "uniformidad". Para comprender la coherencia, puede utilizar los gráficos de rango. Comience en la parte inferior del árbol de muestreo (el subgrupo racional más pequeño). Si esto es estable, enrolle el árbol y evalúe la variabilidad en la siguiente capa.
Si desea cuantificar los componentes de la varianza (sin comprender la coherencia), asegúrese de que los tipos de datos sean nominales, Analizar> Calidad y proceso> Medidor de variabilidad / atributo, ingrese la variable de respuesta en el cuadro Y, Respuesta. Ingrese el árbol de arriba a abajo en el cuadro X, Agrupación. Elija el tipo de modelo Anidado. Esto producirá un gráfico de variabilidad. Seleccione el triángulo rojo junto al indicador de variabilidad y luego seleccione Componentes de varianza. Esto le dará ANOVA y Componentes de varianza.
Re: ¿cómo utilizar JMP para calcular lote a lote, oblea a oblea, dentro de la variación de oblea?Es posible que desee comenzar con algo simple como un gráfico de variabilidad ... pero puede haber algunas características espaciales de los datos que sean de interés ... parece que siempre las hay con la evaluación / cuantificación / visualización de la calidad de las obleas.
Ha habido muchos blogs, presentaciones de JMP Discovery Summit, complementos y otros recursos sobre este tema ... una búsqueda a través de la comunidad de usuarios de JMP debería producir algunos recursos útiles. Mi ex colega @MikeD_Anderson se ha olvidado más de la visualización de datos de semiconductores de lo que jamás sabré. ¿Podría querer buscar su nombre para encontrar sus contribuciones?
