comment utiliser JMP pour calculer Lot à Lot, Plaquette à Plaquette, Dans la variation de plaquette ?Ma question est de savoir comment utiliser JMP pour calculer la variation de lot à lot, de tranche à tranche, au sein d'une tranche et quantifier l'uniformité ?
par exemple, j'ai une table, dans cette table il y a la colonne "lot", la colonne "plaquette", la colonne "site", comprend également une colonne de données.
dans un même lot, il y a 15 tranches, dans une même tranche il y a 20 sites, donc la question est de savoir comment utiliser JMP pour calculer Lot à Lot, Plaquette à Plaquette, Au sein de la variation de plaquette et quantifier l'uniformité ?
merci
Modélisation statistique avancéePersonnalisation de masseRe : comment utiliser JMP pour calculer Lot à Lot, Plaquette à Plaquette, Dans la variation de plaquette ?Vous décrivez un plan d'échantillonnage imbriqué (ou hiérarchique). L'arbre d'échantillonnage pourrait ressembler à ceci :
Comme @P_Bartel suggère que l’examen des données avec des graphiques de variabilité est une bonne première étape. Je ne sais pas ce que vous entendez par « uniformité » ? Pour comprendre la cohérence, vous pouvez utiliser des graphiques de plage. Commencez au bas de l’arbre d’échantillonnage (le plus petit sous-groupe rationnel). Si celui-ci est stable, enroulez l'arbre et évaluez la variabilité à la couche suivante.
Si vous souhaitez quantifier les composantes de la variance (sans comprendre la cohérence), assurez-vous que les types de données sont nominaux, Analyse> Qualité et processus> Variabilité/Jauge d'attribut, entrez la variable de réponse dans la zone Y, Réponse. Entrez l'arborescence de haut en bas dans la zone X, Regroupement. Choisissez le type de modèle Nested. Cela produira un graphique de variabilité. Sélectionnez le triangle rouge à côté de la jauge de variabilité, puis sélectionnez Composants de variance. Cela vous donnera les composants ANOVA et Variance.
Re : comment utiliser JMP pour calculer Lot à Lot, Plaquette à Plaquette, Dans la variation de plaquette ?Vous voudrez peut-être commencer par quelque chose de simple comme un graphique de variabilité... mais il peut y avoir certaines caractéristiques spatiales des données qui sont intéressantes... il semble qu'il y en ait toujours avec l'évaluation/quantification/visualisation de la qualité des plaquettes.
Il existe de nombreux blogs, présentations du JMP Discovery Summit, compléments et autres ressources sur ce sujet... une recherche dans la communauté des utilisateurs JMP devrait fournir des ressources utiles. Mon ancien collègue @MikeD_Anderson a oublié plus de choses sur la visualisation des données sur les semi-conducteurs que je n'en saurai jamais. Vous voudrez peut-être effectuer une recherche sur son nom pour trouver ses contributions ?
