come utilizzare JMP per calcolare la variazione da lotto a lotto, da wafer a wafer, all'interno del wafer?La mia domanda è: come utilizzare JMP per calcolare la variazione da lotto a lotto, da wafer a wafer, all'interno del wafer e quantificare l'uniformità?
ad esempio, ho una tabella, in questa tabella ho la colonna "lotto", la colonna "wafer", la colonna "sito", include anche una colonna di dati.
all'interno dello stesso lotto ci sono 15 wafer, all'interno dello stesso wafer ci sono 20 siti, quindi la domanda è: come utilizzare JMP per calcolare lotto per lotto, wafer per wafer, variazione all'interno del wafer e quantificare l'uniformità?
Grazie
Modellazione statistica avanzataPersonalizzazione di massaRe: come utilizzare JMP per calcolare la variazione da lotto a lotto, da wafer a wafer, all'interno del wafer?Stai descrivendo un piano di campionamento nidificato (o gerarchico). L'albero di campionamento potrebbe assomigliare a questo:
COME @P_Bartell suggerisce, osservare i dati con i grafici della variabilità è un buon primo passo. Non sono sicuro di cosa intendi per "uniformità"? Per comprendere la coerenza è possibile utilizzare i grafici Range. Inizia dalla parte inferiore dell'albero di campionamento (il sottogruppo razionale più piccolo). Se questo è stabile, arrotolare l'albero e valutare la variabilità allo strato successivo.
Se desideri quantificare i componenti della varianza (senza comprendere la coerenza), assicurati che i tipi di dati siano nominali, Analizza> Qualità e processo> Variabilità/Indicatore attributi, inserisci la variabile di risposta nella casella Y, Risposta. Inserisci l'albero dall'alto verso il basso nella casella X, Raggruppamento. Scegli il tipo di modello Nidificato. Ciò produrrà un grafico della variabilità. Seleziona il triangolo rosso accanto all'indicatore di variabilità, quindi seleziona Componenti della varianza. Questo ti darà ANOVA e componenti di varianza.
Re: come utilizzare JMP per calcolare la variazione da lotto a lotto, da wafer a wafer, all'interno del wafer?Potresti voler iniziare con qualcosa di semplice come un grafico di variabilità... ma potrebbero esserci alcune caratteristiche spaziali nei dati che sono di interesse... sembra che ci sia sempre con la valutazione/quantificazione/visualizzazione della qualità del wafer.
Sono stati pubblicati numerosi blog, presentazioni al JMP Discovery Summit, componenti aggiuntivi e altre risorse su questo argomento... una ricerca nella community degli utenti JMP dovrebbe fornire alcune risorse utili. Il mio ex collega @MikeD_Anderson ha dimenticato più di quanto potrò mai sapere sulla visualizzazione dei dati dei semiconduttori. Potresti voler cercare il suo nome per trovare i suoi contributi?
