come utilizzare JMP per calcolare da lotto a lotto, da wafer a wafer, entro la variazione dei wafer?La mia domanda è come utilizzare JMP per calcolare da lotto a lotto, da wafer a wafer, entro la variazione di wafer e quantificare l'uniformità?
ad esempio, ho una tabella, in questa tabella ho la colonna "lotto", la colonna "wafer", la colonna "sito", include anche una colonna di dati.
nello stesso lotto ci sono 15 wafer, all'interno dello stesso wafer ci sono 20 siti, quindi la domanda è: come utilizzare JMP per calcolare da lotto a lotto, da wafer a wafer, entro la variazione di wafer e quantificare l'uniformità?
Grazie
AnalyticsScriptingRi: come utilizzare JMP per calcolare da lotto a lotto, da wafer a wafer, entro variazione di wafer?Stai descrivendo un piano di campionamento nidificato (o gerarchico). L'albero di campionamento potrebbe essere simile a questo:
Come @P_Bartell suggerisce, guardare i dati con i grafici di variabilità è un buon primo passo. Non sono sicuro di cosa intendi per "uniformità"? Per comprendere la coerenza puoi utilizzare i grafici a intervallo. Inizia dalla parte inferiore dell'albero di campionamento (il sottogruppo razionale più piccolo). Se questo è stabile, arrotolare l'albero e valutare la variabilità allo strato successivo.
Se si desidera quantificare i componenti della varianza (senza comprendere la coerenza), assicurarsi che i tipi di dati siano nominali, Analizza> Qualità e processo> Indicatore di variabilità / attributo, immettere la variabile di risposta nella casella Y, Risposta. Immettere l'albero dall'alto verso il basso nella X, casella di raggruppamento. Scegli il tipo di modello Annidato. Questo produrrà un grafico di variabilità. Seleziona il triangolo rosso accanto all'indicatore di variabilità e quindi seleziona Componenti di varianza. Questo ti darà ANOVA e Variance Components.
Ri: come utilizzare JMP per calcolare da lotto a lotto, da wafer a wafer, entro variazione di wafer?Potresti iniziare con qualcosa di semplice come un grafico di variabilità ... ma potrebbero esserci alcune caratteristiche spaziali dei dati che sono di interesse ... sembra che ci sia sempre con la valutazione / quantificazione / visualizzazione della qualità dei wafer.
Ci sono stati molti blog, presentazioni JMP Discovery Summit, componenti aggiuntivi e altre risorse su questo argomento ... una ricerca nella comunità degli utenti di JMP dovrebbe fornire alcune risorse utili. Il mio ex collega @MikeD_Anderson ha dimenticato più di quanto avrò mai saputo sulla visualizzazione dei dati dei semiconduttori. Potrebbe voler cercare il suo nome per trovare i suoi contributi?
