Antecedentes: óptica de nivel de ondulación
Escenario: imagina que tienes una topografía (también conocida como cámara de una superficie con un montón de píxeles). Ahora no tiene solo uno, sino que un operador hace muchos de ellos. Ahora quiere comparar píxel a píxel la variación involucrada de cada imagen tomada con las demás. ¿Qué tan robusta es la medición? Instrumento y operador.
Este es un estudio típico de R&R de Gage, pensé. Tienen 100 medidas. Si solo quisiera comparar 100 imágenes, sería fácil, pero deben tener un píxel por píxel o, en otras palabras, posición por posición sobre todas las medidas de variación de las imágenes. y esta es una tarea diaria para ellos.
En todas las 11 Mio filas, 5-6 columnas. una columna categórica tiene alrededor de 10k categorías que obliga a cualquier R&R del sistema de medición al suelo.
El R&R del sistema de medición no está diseñado para este tipo de tamaño. Pero lo que quieren hacer es o cualquier alternativa.
El objetivo es comprender la repetibilidad y la reproducibilidad en un escenario multidimensional.
¿Alguna idea o recomendación sobre cómo afrontar este tipo de escenarios?
Suena similar a lo que se hace para medir la microrrugosidad (que se usa para determinar la topología de la superficie). Suponiendo que el enfoque no ha cambiado en 20 años, lo que se suele hacer es combinar grupos locales de mediciones para obtener una medición más amplia (piense en algo como promediar los valores). Luego, cada uno de estos "puntos" se puede comparar para ver cómo cambian en diferentes escenarios de medición. Si bien también podía hacer esto píxel por píxel, la combinación de medidas tenía más sentido porque estaban vinculadas a alguna característica física de la oblea (por ejemplo, sitio o matriz).
