Nivel: intermedio
【Presentador】
Motohisa Hirono, HC Business Headquarters con Business Promotion Center, Ricoh Co., Ltd.
Koichi Endo, Departamento de tecnología de confiabilidad de semiconductores discretos, Departamento de tecnología de confiabilidad de semiconductores discretos, Toshiba Device & Storage Co., Ltd.
[Resumen del anuncio]
Quizás JMP es una de las aplicaciones más poderosas y sistemáticas de software de análisis de datos de confiabilidad. En este informe, introduciremos sistemáticamente el método de análisis de datos de por vida en la distribución de univariante, la relación de bivariante, predicción, modelado y tiempo permitido utilizando la plataforma de análisis de confiabilidad / tiempo de supervivencia de JMP. .. En particular, en el modelado, planeamos introducir actividades de confiabilidad y procesos de análisis de datos a través de ejemplos virtuales que no saltan de ejemplos reales a los métodos usados en el teorema de reproducción y pruebas de confiabilidad.
[Perfil del presentador]
Motohisa Hirono
Se unió a Ricoh Co., Ltd. en 1984. Desde entonces, se ha dedicado a la gestión interna de la calidad y la gestión de la fiabilidad, así como a la divulgación y difusión de estadísticas. Después de trabajar como director de la Oficina de Promoción QM de la Sede de Calidad y director del SF Business Center, ocupa su puesto actual. Facultad de Ingeniería, Universidad de Ciencias de Tokio (1997-1998), Profesor a tiempo parcial, Facultad de Gestión de Políticas, Universidad de Keio (2000-2004). Sus principales áreas de especialización son el control de calidad estadístico y la ingeniería de confiabilidad. Los trabajos más importantes incluyen "Práctica del modelado gráfico", "Cómo utilizar datos multivariados con JMP", "23 métodos de cálculo estadístico aprendidos de los ejemplos numéricos de Anscomb", "Análisis multivariante para ingenieros con JMP", Hay "análisis multivariado de uroko de los ojos".
Koichi Endo
Se unió a Toshiba Corporation en 1987. Después del desarrollo de productos y el desarrollo de procesos de circuitos integrados de potencia (circuitos integrados de fuente de alimentación, circuitos integrados de controlador de voltaje de resistencia de 500 V para motores, etc.), actualmente se dedica al desarrollo de tecnología de análisis de fallas. Doctor (Ciencias de la Información) Universidad de Osaka.
* No hay folletos.
