Livello: intermedio
【Presentatore】
Motohisa Hirono, HC Business Headquarters con Business Promotion Center, Ricoh Co., Ltd.
Koichi Endo, dipartimento di tecnologia per l'affidabilità dei semiconduttori discreti, dipartimento di tecnologia per l'affidabilità dei semiconduttori discreti, Toshiba Device & Storage Co., Ltd.
[Riepilogo dell'annuncio]
Forse JMP è una delle applicazioni più potenti e sistematiche del software di analisi dei dati sull'affidabilità. In questo rapporto, introdurremo sistematicamente il metodo di analisi dei dati sulla durata nella distribuzione di univariato, la relazione di bivariata, previsione, modellazione e tempo consentito utilizzando la piattaforma di analisi dell'affidabilità / tempo di sopravvivenza di JMP. .. Soprattutto nella modellazione, abbiamo in programma di introdurre attività di affidabilità e processi di analisi dei dati attraverso esempi virtuali che non saltano da esempi reali ai metodi utilizzati nei teoremi di riproduzione e nei test di affidabilità.
[Presenter Profile]
Motohisa Hirono
È entrato in Ricoh Co., Ltd. nel 1984. Da allora, è stato impegnato nella gestione interna della qualità e nella gestione dell'affidabilità, nell'illuminazione e nella diffusione delle statistiche. Dopo aver lavorato come direttore dell'Ufficio promozione QM del quartier generale della qualità e direttore dell'SF Business Center, è nella sua posizione attuale. Facoltà di ingegneria, Tokyo University of Science (1997-1998), docente part-time, Faculty of Policy Management, Keio University (2000-2004). Le sue principali aree di competenza sono il controllo statistico della qualità e l'ingegneria dell'affidabilità. I lavori principali includono "Practice of Graphical Modeling", "How to Use Multivariate Data with JMP", "23 Statistical Calculation Methods Learned from Anscomb Numerical examples", "Multivariate Analysis for Engineers with JMP", Esiste "un'analisi multivariata dell'uroko dagli occhi".
Koichi Endo
È entrato in Toshiba Corporation nel 1987. Dopo lo sviluppo del prodotto e lo sviluppo del processo dei circuiti integrati di potenza (circuiti integrati di alimentazione, circuiti integrati del driver di tensione da 500 V per motori, ecc.), È attualmente impegnato nello sviluppo della tecnologia di analisi dei guasti. Dottore (Scienza dell'informazione) Università di Osaka.
* Non ci sono dispense.
