Livello: intermedio
【Presentatore】
Motohisa Hirono, HC Business Headquarters con Business Promotion Center, Ricoh Co., Ltd.
Koichi Endo, dipartimento di tecnologia per l'affidabilità dei semiconduttori discreti, dipartimento di tecnologia per l'affidabilità dei semiconduttori discreti, Toshiba Device & Storage Co., Ltd.
[Riepilogo dell'annuncio]
Presentazione di un caso di studio di analisi dei dati di affidabilità, incentrato sulla storia dell'analisi di wibble utilizzando il documento di probabilità di wibble utilizzato nell'ingegneria dell'affidabilità. I dati sull'affidabilità sono spesso interpretati erroneamente a seconda dell'elaborazione. Continuando dallo scorso anno, questa presentazione introdurrà i punti di utilizzo corretto dell'analisi dei dati utilizzando JMP con dimostrazioni mentre si confrontano con i metodi esistenti.
[Presenter Profile]
Motohisa Hirono
È entrato in Ricoh Co., Ltd. nel 1984. Da allora, è stato impegnato nella gestione interna della qualità e nella gestione dell'affidabilità, nell'illuminazione e nella diffusione delle statistiche. Dopo aver lavorato come direttore dell'Ufficio promozione QM del quartier generale della qualità e direttore dell'SF Business Center, è nella sua posizione attuale. Facoltà di ingegneria, Tokyo University of Science (1997-1998), docente part-time, Faculty of Policy Management, Keio University (2000-2004). Le sue principali aree di competenza sono il controllo statistico della qualità e l'ingegneria dell'affidabilità. I lavori principali includono "Practice of Graphical Modeling", "How to Use Multivariate Data with JMP", "23 Statistical Calculation Methods Learned from Anscomb Numerical examples", "Multivariate Analysis for Engineers with JMP", Esiste "un'analisi multivariata dell'uroko dagli occhi".
Koichi Endo
È entrato in Toshiba Corporation nel 1987. Dopo lo sviluppo del prodotto e lo sviluppo del processo dei circuiti integrati di potenza (circuiti integrati di alimentazione, circuiti integrati del driver di tensione da 500 V per motori, ecc.), È attualmente impegnato nello sviluppo della tecnologia di analisi dei guasti. Dottore (Scienza dell'informazione) Università di Osaka.
* Non ci sono dispense.
