Level: Mittelstufe
【Moderator】
Motohisa Hirono, HC-Hauptsitz mit Business Promotion Center, Ricoh Co., Ltd.
Koichi Endo, Abteilung Discrete Semiconductor Reliability Technology, Abteilung Discrete Semiconductor Reliability Technology, Toshiba Device & Storage Co., Ltd.
[Ankündigung Zusammenfassung]
Einführung einer Fallstudie zur Analyse von Zuverlässigkeitsdaten mit Schwerpunkt auf der Geschichte der Wibble-Analyse unter Verwendung des in der Zuverlässigkeitstechnik verwendeten Wibble-Wahrscheinlichkeitspapiers. Zuverlässigkeitsdaten werden je nach Verarbeitung häufig falsch interpretiert. In Fortsetzung dieser Präsentation werden im letzten Jahr die Punkte der korrekten Verwendung der Datenanalyse mit JMP anhand von Demonstrationen beim Vergleich mit vorhandenen Methoden vorgestellt.
[Moderatorprofil]
Motohisa Hirono
Kam 1984 zu Ricoh Co., Ltd. Seitdem ist er im internen Qualitätsmanagement und im Zuverlässigkeitsmanagement sowie in der Aufklärung und Verbreitung von Statistiken tätig. Nach seiner Tätigkeit als Direktor des QM-Promotionsbüros der Qualitätszentrale und als Direktor des SF Business Centers befindet er sich in seiner derzeitigen Position. Fakultät für Ingenieurwissenschaften, Universität Tokio (1997-1998), Teilzeitdozent, Fakultät für Politikmanagement, Universität Keio (2000-2004). Seine Hauptfachgebiete sind statistische Qualitätskontrolle und Zuverlässigkeitstechnik. Zu den Hauptarbeiten gehören "Praxis der grafischen Modellierung", "Verwendung multivariater Daten mit JMP", "23 statistische Berechnungsmethoden aus numerischen Anscomb-Beispielen", "Multivariate Analyse für Ingenieure mit JMP", Es gibt "multivariate Analyse von Uroko aus den Augen".
Koichi Endo
Trat 1987 in die Toshiba Corporation ein. Nach der Produktentwicklung und Prozessentwicklung von Leistungs-ICs (Stromversorgungs-ICs, 500-V-Spannungs-Treiber-ICs für Motoren usw.) beschäftigt er sich derzeit mit der Entwicklung von Fehleranalysetechnologien. Doktor (Informationswissenschaft) Universität Osaka.
* Es gibt keine Handouts.
