Niveau: intermédiaire
【Présentateur】
Motohisa Hirono, siège social de HC avec le centre de promotion des entreprises, Ricoh Co., Ltd.
Koichi Endo, Département de technologie de fiabilité des semi-conducteurs discrets, Département de technologie de fiabilité des semi-conducteurs discrets, Toshiba Device & Storage Co., Ltd.
[Résumé de l'annonce]
Présentation d'une étude de cas d'analyse des données de fiabilité, en se concentrant sur l'histoire de l'analyse des oscillations à l'aide du papier de probabilité des oscillations utilisé dans l'ingénierie de la fiabilité Les données de fiabilité sont souvent mal interprétées en fonction du traitement. Dans la continuité de l'année dernière, cette présentation introduira les points d'utilisation correcte de l'analyse des données à l'aide de JMP avec des démonstrations tout en comparant avec les méthodes existantes.
[Profil du présentateur]
Motohisa Hirono
A rejoint Ricoh Co., Ltd. en 1984. Depuis lors, il s'est engagé dans des travaux internes de gestion de la qualité et de gestion de la fiabilité, ainsi que dans la collecte et la diffusion de statistiques. Après avoir travaillé comme directeur du bureau de promotion QM du siège de la qualité et directeur du centre d'affaires SF, il occupe son poste actuel. Faculté d'ingénierie, Université des sciences de Tokyo (1997-1998), chargé de cours à temps partiel, Faculté de gestion des politiques, Université Keio (2000-2004). Ses principaux domaines d'expertise sont le contrôle statistique de la qualité et l'ingénierie de la fiabilité. Les principales publications incluent "Practice of Graphical Modeling", "How to Use Multivariate Data with JMP", "23 Statistical Calculation Methods Learned from Anscomb Numerical Examples", "Multivariate Analysis for Engineers with JMP", Il existe une "analyse multivariée de l'uroko à partir des yeux".
Koichi Endo
A rejoint Toshiba Corporation en 1987. Après le développement de produits et le développement de processus de circuits intégrés de puissance (circuits intégrés d'alimentation, circuits intégrés de commande de tension de tenue 500V pour moteurs, etc.), il est actuellement engagé dans le développement de technologies d'analyse des défaillances. Docteur (sciences de l'information) Université d'Osaka.
* Il n'y a pas de documents.
