Niveau: intermédiaire
【Présentateur】
Motohisa Hirono, siège social de HC avec le centre de promotion des entreprises, Ricoh Co., Ltd.
Koichi Endo, Département de technologie de fiabilité des semi-conducteurs discrets, Département de technologie de fiabilité des semi-conducteurs discrets, Toshiba Device & Storage Co., Ltd.
[Résumé de l'annonce]
JMP est peut-être l'une des applications les plus puissantes et les plus systématiques des logiciels d'analyse de données de fiabilité. Dans ce rapport, nous introduirons systématiquement la méthode d'analyse des données de durée de vie dans la distribution des données univariées, la relation bivariée, prédiction, modélisation et temps alloué à l'aide de la plateforme d'analyse fiabilité / survie de JMP. .. En particulier dans la modélisation, nous prévoyons d'introduire des activités de fiabilité et des processus d'analyse de données à travers des exemples virtuels qui ne sautent pas des exemples réels aux méthodes utilisées dans le théorème de reproduction et les tests de fiabilité.
[Profil du présentateur]
Motohisa Hirono
A rejoint Ricoh Co., Ltd. en 1984. Depuis lors, il s'est engagé dans des travaux internes de gestion de la qualité et de gestion de la fiabilité, ainsi que dans la collecte et la diffusion de statistiques. Après avoir travaillé comme directeur du bureau de promotion QM du siège de la qualité et directeur du centre d'affaires SF, il occupe son poste actuel. Faculté d'ingénierie, Université des sciences de Tokyo (1997-1998), chargé de cours à temps partiel, Faculté de gestion des politiques, Université Keio (2000-2004). Ses principaux domaines d'expertise sont le contrôle statistique de la qualité et l'ingénierie de la fiabilité. Les principales publications incluent "Practice of Graphical Modeling", "How to Use Multivariate Data with JMP", "23 Statistical Calculation Methods Learned from Anscomb Numerical Examples", "Multivariate Analysis for Engineers with JMP", Il existe une "analyse multivariée de l'uroko à partir des yeux".
Koichi Endo
A rejoint Toshiba Corporation en 1987. Après le développement de produits et le développement de processus de circuits intégrés de puissance (circuits intégrés d'alimentation, circuits intégrés de commande de tension de tenue 500V pour moteurs, etc.), il est actuellement engagé dans le développement de technologies d'analyse des défaillances. Docteur (sciences de l'information) Université d'Osaka.
* Il n'y a pas de documents.
