使用自動驗證分析篩選DOE_Peter Hersh（2020-US-30MP-541_DSJ2020）級別：中級
【主持人】
SAS JMP全球技術支持工程師Peter Hersh
SAS研究院全球支持學習經理Phil Kay博士
[公告摘要]（使用自動翻譯）
在實驗計劃過程中常常會發現許多潛在的重要因素。理想情況下，您應該研究盡可能多的重要因素。可以使用不同類型的篩選設計來最大程度地減少研究大量因素所需的運行次數。篩選設計的主要目標是找到需要進一步研究的活性因素。選擇一種分析這些設計的方法非常重要，因為可能很難將信號與噪聲分離。在本次演講中，我們將向您展示如何使用Chris Gotwalt和Phil Ramsey開發的自動驗證技術來分析不同的篩選設計。重點將放在組正交超飽和設計（GO-SSD）和最終篩選設計（DSD）上。演示文稿將顯示與其他用於分析這些篩選設計的技術相比，自動驗證技術的結果。
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以下視頻提供英語字幕。
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