레벨 : 중급
[발표자]
Peter Hersh, JMP Global Technical Enablement Engineer, SAS
Phil Kay Ph.D, Learning Manager Global Enablement, SAS institute
【발표 개요】 (자동 번역을 이용)
실험 계획 과정에서 많은 잠재적 인 중요한 요인이 특정되는 경우가 종종 있습니다. 이러한 중요한 요소를 가능한 한 많이 조사하는 것이 이상적입니다. 다수의 요인을 조사하는 데 필요한 실행 횟수를 최소화하기 위해 사용할 수있는 검사 설계에는 다양한 종류가 있습니다. 검사 설계의 주요 목표는 더 조사 할 필요가있는 활성 요인을 찾을 수있다. 신호를 노이즈로부터 분리하기 어려운 경우가 있기 때문에 이러한 설계를 분석하는 방법을 선택하는 것이 중요합니다. 이 강연에서는 ChrisGotwalt과 PhilRamsey가 개발 한 자동 검증 기법을 사용하여 다양한 검사 설계를 분석하는 방법에 대해 설명합니다. 초점은 그룹 직교 과포화 설계 (GO-SSD)와 최종 심사 설계 (DSD)입니다. 프레젠테이션에서는 이러한 검사 설계를 분석하기위한 다른 방법과 비교하여 자동 검증 기법의 결과를 보여줍니다.
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