Nivel: intermedio
【Presentador】
Motohisa Hirono, HC Business Headquarters con Business Promotion Center, Ricoh Co., Ltd.
Koichi Endo, Departamento de tecnología de confiabilidad de semiconductores discretos, Departamento de tecnología de confiabilidad de semiconductores discretos, Toshiba Device & Storage Co., Ltd.
[Resumen del anuncio]
Presentamos un estudio de caso de análisis de datos de confiabilidad, que se centra en la historia del análisis de wibble utilizando el papel de probabilidad de wibble utilizado en la ingeniería de confiabilidad. Los datos de confiabilidad a menudo se malinterpretan según el procesamiento. Continuando con el año pasado, esta presentación presentará los puntos del uso correcto del análisis de datos usando JMP con demostraciones mientras se compara con los métodos existentes.
[Perfil del presentador]
Motohisa Hirono
Se unió a Ricoh Co., Ltd. en 1984. Desde entonces, se ha dedicado a la gestión interna de la calidad y la gestión de la fiabilidad, así como a la divulgación y difusión de estadísticas. Después de trabajar como director de la Oficina de Promoción QM de la Sede de Calidad y director del SF Business Center, ocupa su puesto actual. Facultad de Ingeniería, Universidad de Ciencias de Tokio (1997-1998), Profesor a tiempo parcial, Facultad de Gestión de Políticas, Universidad de Keio (2000-2004). Sus principales áreas de especialización son el control de calidad estadístico y la ingeniería de confiabilidad. Los trabajos más importantes incluyen "Práctica del modelado gráfico", "Cómo utilizar datos multivariados con JMP", "23 métodos de cálculo estadístico aprendidos de los ejemplos numéricos de Anscomb", "Análisis multivariante para ingenieros con JMP", Hay "análisis multivariado de uroko de los ojos".
Koichi Endo
Se unió a Toshiba Corporation en 1987. Después del desarrollo de productos y el desarrollo de procesos de circuitos integrados de potencia (circuitos integrados de fuente de alimentación, circuitos integrados de controlador de voltaje de resistencia de 500 V para motores, etc.), actualmente se dedica al desarrollo de tecnología de análisis de fallas. Doctor (Ciencias de la Información) Universidad de Osaka.
* No hay folletos.
