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결함을 찾아내고 줄이기

 

방법을 확인하세요:

• 공간 결함 데이터를 몇 가지 주요 클러스터로 줄입니다.
• 프로세스 개선 방향을 제시하기 위해 클러스터 및 분리된 결함을 제조 프로세스와 연관시킵니다.

 

방법을 확인하세요:

• 결함에 대한 2D 보기에서 3D 보기로 이동하여 다차원 결함을 검사합니다.
• 산점도 3D를 사용하여 3D 보기를 시각적으로 탐색

자원

• 클러스터링 비디오
• 다변량 분석 및 클러스터링 비디오
• Hough Transform 특징 추출 기법의 배경
• 웨이퍼 맵 생성을 위한 JMP Semiconductor Tool Kit 추가 기능
• Discovery Summit 비디오: 모든 웨이퍼 맵이 잘못되었습니다: 반도체 데이터 시각화의 모험

품질 및 프로세스 엔지니어링