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Identifier et réduire les défauts

 

Découvrez comment :

• Réduisez les données de défauts spatiaux à quelques clusters clés
• Corréler les clusters et les défauts isolés avec le processus de fabrication afin de donner une orientation aux améliorations du processus

 

Découvrez comment :

• Examiner les défauts multidimensionnels en passant d'une vue 2D à une vue 3D du défaut
• Explorez visuellement les vues 3D à l'aide de Scatterplot 3D

Ressources

• Vidéos de clustering
• Vidéos d'analyse multivariée et de clustering
• Contexte de la technique d'extraction de caractéristiques de transformation de Hough
• Complément JMP Semiconductor Tool Kit pour créer des cartes de tranches
• Vidéo du Discovery Summit : Toutes les cartes de plaquettes sont fausses : une aventure dans la visualisation des données sur les semi-conducteurs

Ingénierie Qualité et Procédés