312406_fr-FR

liliconcom

Identifier et réduire les défauts

 

Voyez comment:

• Réduisez les données sur les défauts spatiaux à quelques clusters clés
• Corréler les clusters et les défauts isolés avec le processus de fabrication afin de donner une direction pour l'amélioration des processus

 

Voyez comment:

• Examiner les défauts multidimensionnels en passant d'une vue 2D à une vue 3D du défaut
• Explorez visuellement des vues 3D à l'aide de Scatterplot 3D

Ressources

• Vidéos de clustering
• Vidéos d'analyse multivariée et de clustering
• Contexte de la technique d'extraction de caractéristiques de la transformation de Hough
• Complément JMP Semiconductor Tool Kit pour créer des cartes de plaquettes
• Vidéo du Discovery Summit: toutes les cartes de plaquettes sont fausses: une aventure dans la visualisation des données des semi-conducteurs

16 à 30 min6 à 15 minDe baseMaîtriser JMP