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Individuazione e riduzione dei difetti

 

Scopri come:

• Ridurre i dati sui difetti spaziali a pochi cluster chiave
• Correlare cluster e difetti isolati al processo di produzione al fine di fornire indicazioni per i miglioramenti del processo

 

Scopri come:

• Esamina i difetti multidimensionali passando dalla vista 2D a quella 3D del difetto
• Esplora visivamente le viste 3D utilizzando Scatterplot 3D

Risorse

• Video di clustering
• Video di analisi multivariata e clustering
• Informazioni sulla tecnica di estrazione delle feature di Hough Transform
• Componente aggiuntivo del kit di strumenti JMP Semiconductor per la creazione di mappe wafer
• Video del Discovery Summit: tutte le mappe wafer sono sbagliate: un'avventura nella visualizzazione dei dati dei semiconduttori

Ingegneria della qualità e dei processi