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Localización y reducción de defectos

 

Vea cómo:

• Reducir los datos de defectos espaciales a unos pocos grupos clave
• Correlacionar grupos y defectos aislados con el proceso de fabricación para orientar las mejoras del proceso.

 

Vea cómo:

• Examinar defectos multidimensionales pasando de una vista 2D a una vista 3D del defecto.
• Explore visualmente vistas 3D usando Scatterplot 3D

Recursos

• Vídeos de agrupación
• Vídeos de análisis multivariante y clustering.
• Antecedentes de la técnica de extracción de características de Hough Transform
• Complemento del kit de herramientas JMP Semiconductor para crear mapas de obleas
• Vídeo de Discovery Summit: Todos los mapas de obleas son incorrectos: una aventura en la visualización de datos de semiconductores

Ingeniería de Calidad y Procesos