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결함을 찾아 내고 줄이기

 

방법보기 :

• 공간 결함 데이터를 몇 개의 주요 클러스터로 줄입니다.
• 공정 개선 방향을 제공하기 위해 클러스터 및 분리 된 결함을 제조 공정과 연관시킵니다.

 

방법보기 :

• 결함의 2D보기에서 3D보기로 이동하여 다차원 결함 검사
• 산점도 3D를 사용하여 3D보기를 시각적으로 탐색

자원

• 클러스터링 비디오
• 다변량 분석 및 클러스터링 비디오
• Hough Transform 특징 추출 기술에 대한 배경
• 웨이퍼 맵 생성을위한 JMP Semiconductor 도구 키트 추가 기능
• Discovery Summit 비디오 : 모든 웨이퍼 맵이 잘못됨 : 반도체 데이터 시각화의 모험

16-30 분6-15 분기본JMP 마스터하기