nav[aria-label="Primary Navigation"] { padding: 0; & ul { list-style: none; width: 100%; display: flex; flex-direction: row; justify-content: start; align-items: start; gap: 30px; padding: 0; & li { margin: 0; } & ul li { list-style: none; } } }

312406_it-IT

liliconcom

Individuazione e riduzione dei difetti

Guarda come:

Riduci i dati sui difetti spaziali a pochi cluster chiave
Metti in correlazione cluster e difetti isolati al processo di produzione al fine di fornire indicazioni per il miglioramento del processo

Guarda come:

Esamina i difetti multidimensionali passando da una vista 2D a una vista 3D del difetto
Esplora visivamente le viste 3D utilizzando Scatterplot 3D

Risorse

Video di clustering
Analisi multivariata e video di clustering
Informazioni sulla tecnica di estrazione delle caratteristiche della trasformazione di Hough
Componente aggiuntivo JMP Semiconductor Tool Kit per la creazione di mappe wafer
Video Discovery Summit: Tutte le mappe wafer sono sbagliate: un'avventura nella visualizzazione dei dati dei semiconduttori

16-30 min

6-15 min

Di base

Padroneggiare JMP

Comments

There are no comments yet

Quick Links

All Categories
Recent Posts
Activity
Unanswered
Groups
Help
Best Of