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312406_zh-TW

liliconcom · 2020-09-24T19:08:53+00:00

查明和減少缺陷了解如何： * 將空間缺陷數據減少到幾個關鍵類 * 將簇和孤立的缺陷與製造過程相關聯，以便為過程改進提供指導了解如何： * 從缺陷的2D到3D視圖檢查多維缺陷 * 使用Scatterplot 3D直觀地瀏覽3D視圖資源資源* 群集視頻 * 多變量分析和聚類視頻 * Hough變換特徵提取技術背景 * 用於創建晶圓圖的JMP半導體工具套件插件 * Discovery Summit視頻：所有晶圓圖都錯了：半導體數據可視化歷險記 16-30分鐘 6-15分鐘基本的掌握JMP

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查明和減少缺陷

了解如何：

將空間缺陷數據減少到幾個關鍵類
將簇和孤立的缺陷與製造過程相關聯，以便為過程改進提供指導

了解如何：

從缺陷的2D到3D視圖檢查多維缺陷
使用Scatterplot 3D直觀地瀏覽3D視圖

資源資源

群集視頻
多變量分析和聚類視頻
Hough變換特徵提取技術背景
用於創建晶圓圖的JMP半導體工具套件插件
Discovery Summit視頻：所有晶圓圖都錯了：半導體數據可視化歷險記

16-30分鐘

6-15分鐘

基本的

掌握JMP

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