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Fehler erkennen und reduzieren

 

Erfahren Sie, wie Sie:

• Reduzieren Sie räumliche Fehlerdaten auf einige wenige Schlüsselcluster
• Ordnen Sie Cluster und isolierte Fehler dem Herstellungsprozess zu, um eine Richtung für Prozessverbesserungen vorzugeben

 

Erfahren Sie, wie Sie:

• Untersuchen Sie mehrdimensionale Fehler, indem Sie von einer 2D- zu einer 3D-Ansicht des Fehlers wechseln
• Erkunden Sie 3D-Ansichten visuell mit Scatterplot 3D

Ressourcen

• Clustering von Videos
• Multivariate Analyse- und Clustering-Videos
• Hintergrundinformationen zur Merkmalsextraktionstechnik der Hough-Transformation
• JMP Semiconductor Tool Kit Add-In zum Erstellen von Waferkarten
• Video des Discovery Summit: Alle Waferkarten sind falsch: Ein Abenteuer in der Halbleiterdatenvisualisierung

Qualitäts- und Verfahrenstechnik