nav[aria-label="Primary Navigation"] { padding: 0; & ul { list-style: none; width: 100%; display: flex; flex-direction: row; justify-content: start; align-items: start; gap: 30px; padding: 0; & li { margin: 0; } & ul li { list-style: none; } } }

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Fehler lokalisieren und reduzieren

Sehen Sie, wie man:

Reduzieren Sie räumliche Fehlerdaten auf einige Schlüsselcluster
Korrelieren Sie Cluster und isolierte Fehler mit dem Herstellungsprozess, um Anweisungen für Prozessverbesserungen zu geben

Sehen Sie, wie man:

Untersuchen Sie mehrdimensionale Fehler, indem Sie von einer 2D- zu einer 3D-Ansicht des Fehlers wechseln
Untersuchen Sie 3D-Ansichten visuell mit Scatterplot 3D

Ressourcen

Clustering von Videos
Multivariate Analyse- und Clustering-Videos
Hintergrundinformationen zur Hough Transform-Merkmalsextraktionstechnik
JMP Semiconductor Tool Kit Add-In zum Erstellen von Waferkarten
Discovery Summit Video: Alle Wafer-Maps sind falsch: Ein Abenteuer in der Visualisierung von Halbleiterdaten

16-30 min

6-15 min

Basic

JMP beherrschen

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