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查明并减少缺陷

 

请参阅如何：

• 将空间缺陷数据减少到几个关键簇
• 将集群和孤立的缺陷与制造过程相关联，以便为流程改进提供方向

 

请参阅如何：

• 通过从缺陷的 2D 视图到 3D 视图检查多维缺陷
• 使用 Scatterplot 3D 直观地探索 3D 视图

资源

• 聚类视频
• 多变量分析和聚类视频
• 霍夫变换特征提取技术背景
• 用于创建晶圆图的 JMP 半导体工具套件插件
• 探索峰会视频：所有晶圆图都是错误的：半导体数据可视化的冒险

质量和工艺工程