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liliconcom · 2020-09-24T19:08:30+00:00

查明和减少缺陷了解如何： * 将空间缺陷数据减少到几个关键类 * 将簇和孤立的缺陷与制造过程相关联，以便为过程改进提供指导了解如何： * 从缺陷的2D到3D视图检查多维缺陷 * 使用Scatterplot 3D直观地浏览3D视图资源资源* 群集视频 * 多变量分析和聚类视频 * Hough变换特征提取技术背景 * 用于创建晶圆图的JMP半导体工具套件插件 * Discovery Summit视频：所有晶圆图都错了：半导体数据可视化历险记 16-30分钟 6-15分钟基本的掌握JMP

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查明和减少缺陷

了解如何：

将空间缺陷数据减少到几个关键类
将簇和孤立的缺陷与制造过程相关联，以便为过程改进提供指导

了解如何：

从缺陷的2D到3D视图检查多维缺陷
使用Scatterplot 3D直观地浏览3D视图

资源资源

群集视频
多变量分析和聚类视频
Hough变换特征提取技术背景
用于创建晶圆图的JMP半导体工具套件插件
Discovery Summit视频：所有晶圆图都错了：半导体数据可视化历险记

16-30分钟

6-15分钟

基本的

掌握JMP

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