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Calculateur de taille d'effet (complément) pour la conception à mesures répétées avec effet aléatoire

Salut les utilisateurs JMP,

Je voudrais savoir s'il est possible de développer un complément pour calculer la taille de l'effet pour la conception à mesures répétées avec effet aléatoire. J'avais l'habitude d'exécuter l'algorithme LSMeans Tukey HSD dans le rapport Fit Model.

Je vous remercie.

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