Présentation ITEA - Données de test réussite-échec
Réanalyse des données de test du détecteur réussite-échec à l'aide de DOE et
Simulation de Monte Carlo d'une réponse analogique pour réduire le nombre de tests
Présenté pour la première fois en janvier 2011 au Association internationale de test et d'évaluation (ITEA) Atelier d'ingénierie des systèmes. Toutes les diapositives sont jointes au bas de la page. Deux exemples de diapositives sont présentés ci-dessous.
