圖表上過度繪製Kaiser Fung 在 2018 年 6 月 5 日的探索者係列演講中指出，當同一值多次出現時，只有最終繪製的符號可見，從而導致過度繪製。擁有一個標準功能將很有幫助，該功能允許人們檢查過度繪製的點，以了解可見繪圖符號下方的內容。我想到了兩個選擇：
(1) Think Map軟體使用分支樹以圖形方式顯示資料值。您可以抓取單個資料點或節點，並將其移至圖表的清晰區域以更仔細地檢查它。當您釋放節點或點時，它會彈回原位，您可以繼續探索。
(2) 點擊某個點可能會彈出一個新窗口，其中列出了所有過度繪製的資料值，並在工作表中突出顯示它們。分層變數的帕累托圖將揭示混合模式。此外，時間序列圖會很棒，因為最終繪製的符號代表工作表順序中的最後一個資料值，因此時間可能是一個影響因素。
數據探索和視覺化回覆：在圖表上過度繪製 - 狀態變更為：已交付隨著 JMP 16 的發布，新的 LabelViewer Graphlet 可用。
回覆：圖表上過度繪製同樣在 16.0 中。懸停標籤現在將預設顯示有關繪製點上的散點圖的資訊 - 最多四個值，就像聚合圖表中標記列的通常做法一樣。
有了這些訊息，使用者就可以決定使用 graphlet 來深入研究並仔細查看數據。 作為@傑夫·珀金森提到過，LabelViewer 預設將會是不錯的選擇。
回覆：在圖表上過度繪製 - 狀態更改為：正在開發JMP 16 中的懸停標籤中的新 LabelViewer 圖將在此提供協助。
回覆：圖表上過度繪製你好，
添加的內容看起來很棒。不幸的是，我是朋友之友
JMP 程式已終止，因此我無法再存取該軟體
來測試它。
吉姆·阿洛韋
回覆：圖表上過度繪製@賈洛韋
我們正在研究透過 JMP 16.0 中的 Graphlet 預設來滿足這項要求。
對於 JMP 15.0，請查看此插件並告知我們它是否適合您的需求。標籤檢視器：使用懸停標籤探索與單一視覺元素關聯的多個圖像和文字。
回覆：圖表上過度繪製僅供參考，圖形產生器中有一個抖動選項，預設連續變數處於關閉狀態。 它將間隔出具有相同座標的點。
